Sistema a fascio ionico focalizzato NX9000

Sistema a fascio ionico focalizzato - NX9000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH
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Descrizione

In questo sistema unico, le colonne Ga-FIB e FE-SEM sono ad angolo retto tra loro. Questa configurazione è ideale per le applicazioni in cui è necessario analizzare grandi volumi (tessuti biologici, materiali con strutture a grana larga, componenti di semiconduttori, ecc.) in 3D senza distorsioni e con la massima risoluzione, anche con campi visivi molto ampi. l'analisi EBSD 3D può essere eseguita anche con un campione completamente fermo, cioè senza movimento del campione tra il taglio FIB e l'analisi dello strato EBSD.

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Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

Control 2025
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6-09 mag 2025 Stuttgart (Germania)

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    K-Messe	2025
    K-Messe 2025

    8-15 ott 2025 Düsseldorf (Germania)

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    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.