Microscopio elettronico a trasmissione HT7800 series
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microscopio elettronico a trasmissione
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Caratteristiche

Tipo
elettronico a trasmissione
Applicazioni tecniche
da ricerca, biomedico
Tecnica di osservazione
in campo chiaro, 3D, a sfondo scuro, in-situ
Configurazione
a pavimento
Altre caratteristiche
automatizzato, a videocamera digitale, ad alta risoluzione, ergonomico, ad alta velocità, di elaborazione di immagini, a motore, a tilt, per l'identificazione di amianto, a forte contrasto, a forte ingrandimento
Ingrandimento

600.000 unit, 800.000 unit, 1.000.000 unit

Risoluzione spaziale

0,14 nm, 0,19 nm, 0,2 nm

Descrizione

La prossima generazione di innovazione. Soddisfare e superare le esigenze e i requisiti in molti settori. L'HT7800 RuliTEM è un microscopio elettronico a trasmissione (TEM) da 120 kV con diverse configurazioni di lenti, tra cui una lente standard per un contrasto elevato e insuperabile e una lente HR leader della categoria per un'elevata risoluzione. Questa innovazione nel design consente flussi di lavoro altamente efficienti e molte applicazioni specializzate. Rappresenta la soluzione all'avanguardia per le moderne analisi TEM. - L'obiettivo Dual-Mode di Hitachi consente una facile osservazione a basso ingrandimento, un contrasto elevato ad ampio campo, un'alta risoluzione e molto altro ancora, tutto in un unico microscopio. - Il normale funzionamento a luce ambiente e le funzioni automatizzate consentono sia agli operatori inesperti che a quelli esperti di utilizzare il sistema in modo efficace. - La funzione avanzata di navigazione tra gli stadi consente la ricerca dell'intera griglia e l'acquisizione efficiente delle immagini. - Sono disponibili funzioni di stitching automatico delle immagini, tomografia 3D, STEM, EDX, in-situ e altre opzioni per un'ampia gamma di applicazioni. Funzionamento in condizioni di normale illuminazione ambientale grazie alla telecamera con schermo HD Funzionalità digitali, dalla regolazione del fascio all'osservazione e altro ancora Nuovo design di navigazione delle immagini per una ricerca intuitiva sul campo Possibilità di specificare il ROI nell'immagine a bassa luminosità e di acquisire facilmente l'ingrandimento desiderato Funzioni aggiuntive e accessori opzionali Funzione panoramica automatica multi-frame, correzione della deriva, pre-irradiazione automatica, STEM, EDX, vari supporti per campioni e tomografia a fascio di elettroni sono disponibili per un'ampia varietà di esigenze di analisi.

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Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

36th Control 2024
36th Control 2024

23-26 apr 2024 Stuttgart (Germania) Stand 7103

  • Maggiori informazioni
    The Advanced Materials Show

    15-16 mag 2024 Birmingham (Regno Unito)

  • Maggiori informazioni

    Altri prodotti Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.