Microscopio STEM HF5000

per ricerca sui materialiper analisi di materialedi metrologia

L'HF5000 è un S/TEM con correzione Cs personalizzabile per esperimenti in situ. La particolarità è data dal rivelatore Everhart Thornley SE, che riproduce la superficie del campione a 60-200kV, proprio come in un SEM. Ciò è particolarmente vantaggioso per gli esperimenti in situ con gas e riscaldamento, in cui il gas reagisce con la superficie del campione. Grazie al correttore Cs, la superficie può essere visualizzata con risoluzione atomica. La commutazione rapida e di routine tra TEM e STEM rende facile il lavoro quotidiano con un correttore Cs completamente automatico, anche per i principianti nel campo del TEM. Caratteristiche del prodotto: - Sorgente di elettroni a emissione di campo freddo con emissione a banda energeticamente stretta, ideale per l'imaging ad alta risoluzione e gli EELS - Correttore Cs STEM Hitachi, completamente automatizzato - Rivelatore di elettroni secondari per informazioni sovrapposte sulla superficie del campione in correlazione al segnale degli elettroni trasmessi - Esperimenti ETEM possibili, ad esempio, in un'atmosfera di gas aperto