La tecnologia HORIBAs Raman è facilmente abbinabile ai microscopi a sonda a scansione (SPM). La piattaforma consente la microscopia a forza atomica (AFM), tecniche ottiche in campo vicino (SNOM, NSOM), la microscopia a tunnel a scansione (STM) e la spettroscopia ottica confocale (Raman e Fluorescence Imaging) in un unico strumento versatile, pronto per misure Raman Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS) o co-localizzate.
L'eccezionale stabilità a lungo termine e la velocità della nostra piattaforma integrata Raman-AFM offrono risultati affidabili sia per misurazioni co-localizzate che per la TERS Imaging. Una piattaforma unica per misure simultanee assicura che le immagini che si ottengono siano veramente correlate.
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