Il GR-511F può controllare i gas utilizzati per raffreddare il lato posteriore dei wafer fissati in posizione da un sistema di mandrini elettrostatici.
La stabilità e la precisione del GR-511F lo rendono ideale per controllare il flusso di elio e argon nei sistemi di raffreddamento dei wafer.
CARATTERISTICHE
Controllo della pressione con maggiore stabilità e precisione
Sensore di portata massica (opzionale)
Compatibile con vari raccordi
Conformità alla direttiva RoHS
Esempio di applicazione
Nell'esempio seguente, il GR-511F controlla i gas utilizzati per raffreddare il lato posteriore dei wafer fissati in posizione da un sistema di mandrini elettrostatici.
tipo di valvola - C: normalmente chiusa
Integrità delle perdite - ≤ 7 × 10-11 Pa-m3 /s (He)
Pressione massima di esercizio - 300 kPa (A)
Resistenza alla pressione - 350 kPa (A)
Temperatura di funzionamento - 5-50 °C (Precisione garantita: 15-40 °C)
Alimentazione - +15 Vc.c. ±5 %, 250 mA -15 Vc.c. ±5 %, 250 mA
Consumo di energia - 7,5 VA
Interfaccia - Analogica
Gas *1 - He, Ar, N2
Raccordi standard - VCR da 1/4 di pollice o equivalente
Fondo scala della pressione - 1,333 kPa (A) (10 Torr), 2,666 kPa (A) (20 Torr),
6.666 kPa (A) (50 Torr)
Campo di controllo della pressione - 1-100 %F.S.
Precisione della pressione *2 - ±0,5 %R.S.
Coefficiente di temperatura di zero - ±0,04 %F.S./°C
Coefficiente di temperatura di span - ±0,04 %R.S./°C
Risposta *3 - ≤ 1 sec
Segnale di impostazione della pressione - 0,1-10 VDC (1-100 %F.S.) Impedenza di ingresso ≥ 1 MΩ
Opzione: 0,05-5 VDC (1-100 %F.S.) Impedenza di ingresso ≥ 1 MΩ
Segnale di uscita della pressione - 0-10 VDC (0-100 %F.S.) Resistenza minima 2 kΩ
Opzione: 0-5 VDC (0-100 %F.S.) Resistenza minima 2 kΩ
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