La strumentazione Keithley consente di realizzare facilmente un sistema LIV (light-current-voltage) per testare i moduli di diodi laser in modo economico.
-Sistema di test per diodi laser a impulsi 2520: Sistema di test di sincronizzazione che offre capacità di sourcing e di misura per test LIV pulsati e continui.
-SMU SourceMeter 2510 e 2510-AT: garantiscono un controllo della temperatura dei moduli a diodi laser grazie al controllo del raffreddatore termoelettrico.
-Controllo attivo della temperatura: previene le variazioni di temperatura che potrebbero causare la variazione della lunghezza d'onda dominante del diodo laser, con conseguente sovrapposizione del segnale e problemi di diafonia.
-Controllore TEC da 50W: consente velocità di test più elevate e un intervallo di setpoint di temperatura più ampio rispetto ad altre soluzioni di potenza inferiore.
-Controllo P-I-D completamente digitale: garantisce una maggiore stabilità della temperatura e può essere facilmente aggiornato con una semplice modifica del firmware.
-Capacità di autotuning per il loop di controllo termico (2510-AT): elimina la necessità di ricorrere alla sperimentazione per tentativi per determinare la migliore combinazione di coefficienti P, I e D.
-Ampio intervallo di setpoint di temperatura (da -50°C a +225°C) ed elevata risoluzione del setpoint (±0,001°C) e stabilità (±0,005°C): soddisfa la maggior parte dei requisiti di test per la produzione di componenti e sottogruppi ottici raffreddati.
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