Spettrometro a raggi X Epsilon 1 for small Spot Analysis

a fluorescenza a raggi Xper l'analisicompatto

Avete bisogno di un'analisi elementare di piccoli oggetti o piccole inclusioni in apparecchi elettronici, giocattoli, gioielli, rocce o prodotti finiti? Epsilon 1 per l'analisi di piccoli punti, uno spettrometro compatto a fluorescenza a raggi X con una dimensione del punto di analisi di 0,8 x 1,2 mm, è la soluzione analitica ideale per un'analisi spot-on flessibile e precisa. Grazie al design autonomo e all'ingombro ridotto, Epsilon 1 può essere posizionato vicino al luogo in cui si trova il campione, rendendo lo strumento una soluzione ideale per qualsiasi analisi elementare negli impianti di produzione, nei siti di esplorazione, al banco del negozio o persino sui luoghi dei crimini per le indagini forensi. Le prestazioni dello spettrometro soddisfano i metodi di test standard richiesti da diverse direttive e normative in vari mercati industriali, come la RoHS-3 per l'elettronica e la CPSIA per molti beni di consumo. Quantificazione robusta e flessibile I risultati di precisione vengono forniti per un'ampia gamma di applicazioni, come RoHS-3, WEEE, ELV, giocattoli, gioielli, rocce e ispezione del prodotto finale. Ciò è reso possibile da Omnian, il pacchetto software di analisi standardless leader di mercato di PANalytical, utilizzato anche sugli strumenti XRF più avanzati. Come soluzione immediata, Omnian può essere utilizzato per analizzare un'ampia varietà di composizioni elementari, dal sodio all'americio, in tutta la tavola periodica. Con le calibrazioni dedicate, è possibile seguire i metodi di prova internazionali, come ASTM F2617 (RoHS), o effettuare lo screening secondo le specifiche descritte da ASTM F963 (giocattoli) e IEC 62123 (elettronica). Conformità ASTM F2617-15 per RoHS-3