Spettrometro a raggi X Epsilon 4

a fluorescenza a raggi Xdi processodi monitoraggio

Nato dall'esperienza e dal successo della collaudata gamma di spettrometri XRF Epsilon 3, Epsilon 4 è un analizzatore XRF da banco multifunzionale per qualsiasi segmento industriale che necessiti di analisi elementari dal fluoro (F) all'americio (Am) in aree che vanno dalla ricerca e sviluppo al controllo di processo. Combinando le più recenti tecnologie di eccitazione e rivelazione con un software maturo e un design intelligente, le prestazioni analitiche di Epsilon 4 si avvicinano a quelle di spettrometri XRF più potenti e da banco. Epsilon 4 Ovunque Grazie ai suoi bassi requisiti infrastrutturali, Epsilon 4 può essere collocato accanto alla linea di produzione in qualsiasi punto del processo. Le sue elevate prestazioni consentono di far funzionare la maggior parte delle applicazioni a condizioni ambientali, riducendo i costi di manutenzione dell'elio o del vuoto. Spettrometro di fluorescenza a raggi X a dispersione di energia per l'analisi degli elementi, dal carbonio (C) all'americio (Am), con un intervallo di concentrazione da sub-ppm a 100 wt%. Utilizzate Omnian per l'analisi standard, FingerPrint per i test sui materiali quando la velocità di analisi è importante o Stratos per un'analisi rapida, semplice e non distruttiva di rivestimenti, strati superficiali e strutture multistrato. Si può anche utilizzare Enhanced Data Security, che supporta la conformità a normative come FDA 21 CFR Part 11, oppure Oil-Trace per quantificare le miscele di carburante-biocarburante e gli oli lubrificanti freschi e usati.