Apparecchio per prove per l'industria automobilistica M2 DS6 Pulsar

di correntedi prestazionedi cortocircuito

Test di dispositivi ad ampio bandgap come MOSFET SiC, JFET, half-bridges e diodi secondo gli standard di qualità automobilistici come AEC-Q101 e AQG 324. DS6 Pulsar esegue test dinamici di commutazione con correnti elevate fino a 7.500A nelle fasi di produzione di KGD, discreti e moduli. Le velocità di commutazione ultraveloci di DS6 Pulsar ricreano le condizioni di stress da corrente elevata che i dispositivi sperimentano durante il funzionamento nel settore automobilistico L'interfaccia di gestione del dock garantisce velocità di rotazione elevate, forme d'onda smorzate in modo critico e un'induttanza di prova di 20-40 nH. La tecnologia SocketSafeTM protegge la cella di prova in caso di guasto catastrofico del dispositivo durante il test, perfetta per le tecnologie di potenza ad ampio bandgap, in modo da poter spedire prodotti conformi e della massima qualità PRESTAZIONI - LIMITI DI TEST PIÙ ELEVATI Test di cortocircuito fino a 7.500 A, specificamente progettati per applicazioni automobilistiche, che simulano eventi di stress reali come lo shoot-through. L'interfacciamento con l'hard dock consente di collegare il dispositivo in prova più vicino alla stazione di test, riducendo al minimo l'induttanza parassita. induttanza parassita tipica di 20-40 nH per velocità di commutazione ultraveloci con overshoot minimo. Questo migliora significativamente i tempi di rampa del test senza il rischio che l'overshoot di tensione superi i limiti del dispositivo FLESSIBILITÀ DI TEST Conveniente ed efficiente, investite in DS6 Pulsar per eseguire un'ampia gamma di test su un'unica piattaforma hardware. È possibile passare facilmente ad altri gestori e tipi di DUT cambiando semplicemente la scheda figlia dell'interfaccia SICUREZZA La tecnologia all'avanguardia di protezione da sovracorrente (OCP) SocketSafe™ protegge l'intera cella di test durante gli eventi di guasto entro 300 ns