Apparecchi per prove automatici Microtest

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impianto per prove automatico
impianto per prove automatico
VIP ULTRA

... Apparecchiatura di test automatica di nuova generazione configurabile per prodotti di potenza Si, SiC e GaN; circuiti integrati driver high side e low side, IGBT, MOSFET di potenza, circuiti integrati di potenza. Configurazioni: VIP ...

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apparecchio per prove di segnale misto
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DMT

... grandi dimensioni in uno spazio limitato. Caratteristiche principali: - Il più basso ingombro sul mercato - Generatore automatico di codice (Kronos) - Riduce drasticamente il time to market - Convalida di nuovi circuiti ...

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apparecchio per prove di corrente
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M2 DS6 Pulsar

... Test di dispositivi ad ampio bandgap come MOSFET SiC, JFET, half-bridges e diodi secondo gli standard di qualità automobilistici come AEC-Q101 e AQG 324. DS6 Pulsar esegue test dinamici di commutazione con correnti elevate fino a 7.500A ...

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impianto per prove di semiconduttori
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VIP EXTENDED

... Apparecchiatura di test automatica configurabile per prodotti di potenza Si, SiC e GaN; circuiti integrati driver high side e low side, IGBT, MOSFET di potenza, circuiti integrati di potenza. Punti di forza: - Elevato ...

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apparecchio per prove di semiconduttori
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HATINA 4S

... SOLUZIONE MOLTO COMPATTA PER IL COLLAUDO DI DISPOSITIVI MEMS ATE flessibile e a basso costo, per mercati ad altissimo parallelismo e bassa complessità come MEMS, open/short e logica di consumo. Caratteristiche principali: - V/I e DPS ...

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impianto per prove elettrico
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CELSIUS EVO

... pur mantenendo un ingombro ridotto - Tecnologia innovativa di riscaldamento per temperature più elevate - Ispezione visiva automatica e correzione del posizionamento - Sistema di controllo della temperatura altamente ...

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apparecchio per prove di prestazione
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DS5 series

... I tester M2 Dynamic Switch di ipTEST offrono funzionalità di test complete per i dispositivi di potenza ad ampio bandgap in ogni fase della produzione. Questi tester avanzati sono progettati per gestire un'ampia gamma di dispositivi, ...

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