Impianto per prove di semiconduttori VIP EXTENDEDelettricodi capacitàdi tensione
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Caratteristiche
- Tipo di test
- elettrico, resistenza elettrica, di corrente, di tensione, di prestazione, di qualità, di calibrazione, di capacità
- Modo di funzionamento
- automatico
- Prodotto testato
- per componenti elettronici, di semiconduttori, di wafer
- Settore specifico
- industriale, per l'industria automobilistica, per controllo di qualità, per l'industria elettronica
- Tecnologia
- elettronico
- Configurazione
- compatto
- Altre caratteristiche
- di precisione
Descrizione
Apparecchiatura di test automatica configurabile per prodotti di potenza Si, SiC e GaN; circuiti integrati driver high side e low side, IGBT, MOSFET di potenza, circuiti integrati di potenza.
Punti di forza:
- Elevato UPH per la selezione dei wafer e il test a strisce
- 48 x sito di test parallelo per Rg, Cg e UiS
- COT più basso per i prodotti di potenza
Caratteristiche principali:
- Sorgenti DC [4 quadranti con riferimento a terra] Media potenza: fino a 64 risorse [±110V, ±4A]
- Corrente DC programmabile Sink/Source: fino a 64 risorse [fino a ±250A]
- Canali digitali: fino a 320 canali [livello di uscita da -1,25V a 6,75V, 50mA, carico attivo ±12mA, 64M memoria pattern/ch, 32M memoria DSIO/ch, una PPMU per canale]
- Unità di misura del tempo fino a 64
- Driver digitale flottante fino a 192
- Misuratori LCR: fino a 64
- PPMU: fino a 64
- Misuratori Pico: fino a 64 [20pA come precisione]
- Carichi induttivi e resistivi fino a 64 x2
Dimensioni
- Altezza: 350 mm
- Larghezza: 600 mm
- Profondità: 640 mm
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Cataloghi
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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.