Impianto per prove di semiconduttori HATINA GP

di qualitàautomatizzatoper componenti elettronici

L'ATE di uso generale per ASIC, PMIC e Smart Power HATINA GP è progettato per testare circuiti integrati e SoC Smart Power complessi. Consigliato per un elevato parallelismo. Caratteristiche principali: - Il multiplexer integrato riduce la complessità della scheda di carico - L'efficienza del test parallelo >99% offre il miglior COT della categoria - La strumentazione modulare si allinea alle esigenze del mercato e della tecnologia - L'ingombro ridotto e la minore potenza migliorano il ROI - Lo sviluppo automatizzato del programma di test migliora il time-to-market - Strumenti SW rivoluzionari (Kronos) Caratteristiche principali: - Sorgenti DC [IV quadranti riferiti a terra] Bassa potenza: fino a 160 risorse per slot [±110V, ±200mA] - Sorgenti DC [IV quadranti riferiti a terra] Media Potenza: fino a 80 risorse per slot [±110V, ±4A] - Sorgenti ad alta potenza: fino a 16 risorse per slot [±80V, ±10A] - Canali digitali: fino a 256 canali per slot [livello di uscita da -1,25V a 6,75V, 50mA, carico attivo ±12mA] - Canale digitale LF II°Gen @200MHz fino a 1024 - DPS HC [Alimentazione digitale - Alta corrente] 5,5 V@10 A fino a 80 - DPS LC [Alimentazione digitale - Bassa corrente] 7V@1A fino a 256 - Canale digitale HF @800MHz fino a 256 - Unità di misura del tempo e misuratore differenziale, AWG e digitalizzatore - OPZIONE: - Opzione HV - Unità di misura del tempo fino a 64 - Driver digitale flottante fino a 192 - Misuratori LCR: fino a 64 - PPMU: fino a 64 - Misuratori Pico: fino a 64 [20pA come precisione] - Carichi induttivi e resistivi fino a 64 x 2 Dimensioni - Altezza: 700 mm - Larghezza: 670 mm - Profondità: 640 mm