Camera per test di rodaggio Hatina WLBIper semiconduttoreper controllo di qualità
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Caratteristiche
- Tipo di test
- di rodaggio
- Uso previsto
- per semiconduttore
- Campo di applicazione
- per controllo di qualità
- Lunghezza
560 mm
(22,05 in)- Larghezza
560 mm
(22 in)- Profondità
550 mm
(22 in)
Descrizione
Soluzione per il burn-in a livello di wafer per i MOS di potenza
Punti salienti:
WLBI per tecnologie di potenza - Si, SiC, GaN
Compatibile con wafer da 6, 8 e 12 pollici
In grado di eseguire il burn-in dell'intero wafer
Soluzione economica per test di affidabilità e ciclo di vita
Sfrutta la tecnologia standard del wafer prober
Caratteristiche principali:
Parallelismo: da 160 siti a 1600 siti
Tensione: fino a 1,2KV per sito
Corrente: 2mA per sito
Configurazione del test:
Test funzionale
HTGB
HTRB
---
Cataloghi
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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.