Apparecchio per prove di semiconduttori HATINA 4Sdi qualitàautomaticoper circuito stampato
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Caratteristiche
- Tipo di test
- di qualità
- Modo di funzionamento
- automatico
- Prodotto testato
- per circuito stampato, di semiconduttori, per componenti elettronici
- Settore specifico
- per controllo di qualità, per l'industria elettronica
- Tecnologia
- digitale, MEMS
- Configurazione
- compatto
- Altre caratteristiche
- di precisione
Descrizione
SOLUZIONE MOLTO COMPATTA PER IL COLLAUDO DI DISPOSITIVI MEMS
ATE flessibile e a basso costo, per mercati ad altissimo parallelismo e bassa complessità come MEMS, open/short e logica di consumo.
Caratteristiche principali:
- V/I e DPS ad alto numero di pin
- Alto numero di pin digitali
- Mux integrato per un'estrema flessibilità
- 0-footprint, basso costo per sito
- Facile integrazione dell'automazione
Caratteristiche principali:
- 2 sorgenti DCS_1A (force and sense) multiplexate in 256 posizioni diverse per modulo
- 12 canali digitali multiplexati in 256 posizioni diverse per modulo
- 20 canali digitali diretti per modulo
Dimensioni
- Altezza: 538 mm
- Larghezza: 360 mm
- Profondità: 330 mm
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Cataloghi
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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.