Software visualizzatore Discover® Review

di ispezioneserverdi condivisione

Discover® Review Software è una soluzione di classificazione intuitiva che guida rapidamente gli utenti attraverso le sequenze di classificazione e correlazione dei difetti. Panoramica del prodotto Discover® Review Software migliora la produttività del sistema consentendo agli utenti di rivedere i risultati offline. Esaminate i risultati dei difetti da qualsiasi strumento di ispezione collegato al server Discover. L'utilizzo di più client aumenta la produttività supportando la revisione simultanea con protezione dalla sovrascrittura, mentre lo stato di revisione parziale consente di cambiare i turni dell'operatore. Visualizzare i difetti singolarmente o collettivamente utilizzando un visualizzatore interattivo di mappe di wafer su tutta la superficie (fronte, bordo, retro). La modalità di revisione a galleria consente agli utenti di selezionare immagini singole o multiple per wafer o die per una rapida classificazione e confronto dei difetti. Discover Review Software include anche un gran numero di esportazioni di mappe di wafer e report personalizzabili.