Profilometro ottico TopMap Micro.View

3Dinterferometricocon interferometria a luce bianca

Profilatore ottico compatto per microstrutture e rugosità TopMap Micro.View® è il profilatore di superficie compatto della linea di interferometri a luce bianca TopMap che consente ispezioni ripetibili e ad alta risoluzione di microstrutture, texture, finitura e parametri di rugosità areale (Sa, Sz, ...). Scansionate le vostre superfici velocemente e con una risoluzione inferiore al nm! Grazie alla tecnologia di scansione continua CST integrata, la corsa di 100 mm sull'asse Z offre un campo di misura completo di 100 mm con una risoluzione verticale nell'ordine dei nanometri. Questo profilometro ottico è caratterizzato da un design compatto con elettronica integrata e convince per la facilità d'uso, ad esempio grazie alla funzione automatica di messa a fuoco per misure rapide ed efficienti in ambienti di produzione e laboratori di prova. + Analisi della topografia areale e tridimensionale completa di rugosità, texture e microstrutture. + Sistema di profilatura compatto per l'analisi dei dettagli della superficie + Ampio campo di misura verticale di 100 mm con la tecnologia di scansione continua CST + Eccellente risoluzione laterale + Misura con risoluzione sub-nanometrica + NUOVO: Opzioni di lenti estese 0,6X ... 111X ora disponibili Contattateci per dimostrazioni, studi di fattibilità su campioni specifici e ulteriori informazioni.