Profilometro ottico TopMap Micro.View

3Dcon interferometria a luce biancainterferometrico

Profilatore ottico compatto per microstrutture e rugosità TopMap Micro.View® è il sistema di misura compatto della famiglia di interferometri a luce bianca TopMap che consente ispezioni e valutazioni ripetibili e ad alta risoluzione dei parametri strutturali, di struttura superficiale e di rugosità della superficie. Grazie alla tecnologia di scansione continua CST integrata, la corsa di 100 mm sull'asse Z offre un campo di misura completo di 100 mm con una risoluzione verticale nell'ordine dei nanometri. Questo profilometro ottico è caratterizzato da un design compatto con elettronica integrata e convince per la facilità d'uso, ad esempio grazie alla funzione automatica di messa a fuoco per misure rapide ed efficienti in ambienti di produzione e laboratori di prova. + Analisi della topografia areale e tridimensionale completa di rugosità, texture e microstrutture. + Sistema di profilatura compatto per l'analisi dei dettagli della superficie + Ampio campo di misura verticale di 100 mm con la tecnologia di scansione continua CST + Eccellente risoluzione laterale + Obiettivi specifici per le applicazioni Contattateci per dimostrazioni, studi di fattibilità su campioni specifici e ulteriori informazioni.