Il CHRocodile CLS 2.0 consente di misurare superfici complesse con elevate pendenze ad altissima velocità e senza ombreggiature. Il sensore di linee confocali ad alta velocità misura con la massima precisione ed elevata risoluzione su quasi tutti i materiali, anche quelli più difficili. La sua versatilità consente un'ampia varietà di operazioni di misura.
Inoltre, il CHRocodile CLS 2.0 contribuisce a ridurre i costi operativi, a risparmiare tempo e a garantire un controllo al 100% nelle applicazioni dell'Industria 4.0. Infine, il sensore di linea confocale ad alta velocità CHRocodile CLS 2.0 è molto più piccolo e leggero di altri dispositivi.
Applicazioni di CHRocodile CLS 2.0 nel settore dei semiconduttori: Ispezione del wire bonding, misure di bump, ispezione dei bordi dei wafer di imballaggio, ispezione delle scanalature di taglio, difetti, cricche dei die e litografia delle fotomaschere.
Altre applicazioni per l'elettronica di consumo: Ispezione della topografia dell'alloggiamento, ispezione di superfici leggermente, mediamente e fortemente curve, ispezione di smussi e scanalature, ispezione di diametri/buchi/superfici a gradini, ispezione estetica con dati aggiuntivi sull'altezza.
Vantaggi
- Alta velocità, massima precisione
Con i suoi 48 milioni di punti di misura e una velocità di scansione fino a 40.000 linee al secondo, il CHRocodile CLS 2.0 è ideale per le applicazioni di controllo qualità in linea in cui il tempo di ciclo è fondamentale. Inoltre, fornisce dati con una risoluzione laterale e assiale estremamente elevata per misure ultraprecise.
- Grande flessibilità
La versatilità di questo sensore confocale a linee risolve un'ampia varietà di compiti di misura, ad esempio misure di topografia e spessore, composizioni, strati, superfici sotto materiali trasparenti e geometrie complesse.
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