Microscopio per wafer SAM 300 AUTO WAFER
per ispezioneautomatizzatoacustico a scansione

Microscopio per wafer - SAM 300 AUTO WAFER - PVA TePla Analytical Systems GmbH - per ispezione / automatizzato / acustico a scansione
Microscopio per wafer - SAM 300 AUTO WAFER - PVA TePla Analytical Systems GmbH - per ispezione / automatizzato / acustico a scansione
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti
 

Caratteristiche

Applicazioni tecniche
per ispezione
Altre caratteristiche
automatizzato, acustico a scansione, per wafer

Descrizione

La SAM 300 AUTO WAFER è una linea di prodotti sviluppata per il controllo in linea della produzione di wafer legati. E' compatibile con le camere bianche classe 10. L'applicazione principale è il rilevamento di vuoti, inclusioni e aree delaminate all'interfaccia incollata dei wafer.

---

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.