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Risoluzione spaziale: 1 µm
... I sistemi di microscopio MX63 e MX63L sono ottimizzati per ispezioni di alta qualità su wafer fino a 300 mm, display a schermo piatto, circuiti stampati e altri campioni di grandi dimensioni. Il loro design modulare consente di scegliere ...
Ingrandimento: 3.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... L'SU9000 II è una combinazione di SEM ad immagine di superficie e microscopio a trasmissione a scansione a risoluzione intrinseca (STEM) ottimizzata per ottenere una risoluzione estrema. Ciò è reso possibile dall'esclusiva ...
Ingrandimento: 5 unit - 800.000 unit
Risoluzione spaziale: 15, 4, 3 nm
... colori delle piastre campione coprono l'intera area del campione osservabile al SEM - Funzionamento senza preoccupazioni: le collisioni tra lo stage e i componenti del SEM sono virtualmente eliminate grazie alla limitazione ...
Ingrandimento: 20 unit - 8.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,08, 0,1 nm
... L'HF5000 è un S/TEM con correzione Cs personalizzabile per esperimenti in situ. La particolarità è data dal rivelatore Everhart Thornley SE, che riproduce la superficie del campione a 60-200kV, proprio come in un SEM. Ciò è particolarmente vantaggioso ...
Ingrandimento: 10 unit - 5.480.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,7 nm - 3 nm
... Il microscopio elettronico a scansione JSM-IT800, equipaggiato con l’innovativa sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky “In-Lens Plus” (brevetto JEOL) unita ad uno spettrometro a raggi X (EDS) e alla nuova interfaccia grafica, ...
Peso: 9,5 kg
Lunghezza: 613 mm
Larghezza: 251 mm
... industriali. Microscopi montanti modulari motorizzati e manuali Le eccellenti ottiche Nikon CFI60-2 forniscono immagini eccellenti sia agli oculari che alle fotocamere digitali Nikon con software di analisi. Il design universale del ...
Nikon Metrology
... Il nuovo "Machine Vision Microscope" (MVM) è un microscopio puramente digitale con tutte le caratteristiche che fanno un microscopio. Ha un obiettivo per microscopio ad alta correzione ...
... DIC e POL per le analisi multiple. Microscopio invertito entry-level per applicazioni generali per test di durezza. Microscopio invertito industriale e per la scienza dei materiali, appositamente progettato per campioni ...
Ingrandimento: 66 unit - 1.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 1,3 nm
Lunghezza: 1.716 mm
... Microscopio elettronico a scansione ad alta velocità per l'imaging su scala trasversale di campioni di grandi dimensioni Il CIQTEK HEM6000 è dotato di tecnologie quali il cannone elettronico ad alta luminosità a grande corrente, il sistema ...
... , controllate attraverso un'interfaccia grafica di facile utilizzo. Costruito secondo gli standard dell'industria dei semiconduttori attorno ad una piattaforma centrale che utilizza le più recenti tecnologie di produzione e ricerca, ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... Il microscopio dello zoom di serie ZTX-S adotta il sistema di imaging ottico, con l'alta risoluzione, la definizione fine e il forte senso di tridimensionale, facile operation.The è ampiamente utilizzato nel semiconduttore ...
... torretta rotante verso l'interno e agli obiettivi con grande distanza di lavoro. • Ideale come stazione di controllo per semiconduttori. • I modelli L- e L4 supportano laser YAG con lunghezze d'onda da 266 fino a 1064 nm consentendo ...
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