Raggiungi nuovi clienti 365 giorni all'anno grazie a un'unica piattaforma
Diventa espositore
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Risoluzione spaziale: 1 µm
... I sistemi di microscopio MX63 e MX63L sono ottimizzati per ispezioni di alta qualità su wafer fino a 300 mm, display a schermo piatto, circuiti stampati e altri campioni di grandi dimensioni. Il loro design modulare consente ...
Ingrandimento: 3.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... L'SU9000 II è una combinazione di SEM ad immagine di superficie e microscopio a trasmissione a scansione a risoluzione intrinseca (STEM) ottimizzata per ottenere una risoluzione estrema. Ciò è reso possibile ...
Ingrandimento: 5 unit - 800.000 unit
Risoluzione spaziale: 15, 4, 3 nm
... colori delle piastre campione coprono l'intera area del campione osservabile al SEM - Funzionamento senza preoccupazioni: le collisioni tra lo stage e i componenti del SEM sono virtualmente eliminate ...
Ingrandimento: 20 unit - 8.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,08, 0,1 nm
... L'HF5000 è un S/TEM con correzione Cs personalizzabile per esperimenti in situ. La particolarità è data dal rivelatore Everhart Thornley SE, che riproduce la superficie del campione a 60-200kV, proprio come in un SEM. Ciò è particolarmente ...
Ingrandimento: 66 unit - 1.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 1,3 nm
Lunghezza: 1.716 mm
... Microscopio elettronico a scansione ad alta velocità per l'imaging su scala trasversale di campioni di grandi dimensioni Il CIQTEK HEM6000 è dotato di tecnologie quali il cannone elettronico ad alta luminosità a grande ...
... Il nuovo "Machine Vision Microscope" (MVM) è un microscopio puramente digitale con tutte le caratteristiche che fanno un microscopio. Ha un obiettivo per microscopio ...
... DIC e POL per le analisi multiple. Microscopio invertito entry-level per applicazioni generali per test di durezza. Microscopio invertito industriale e per la scienza dei materiali, appositamente progettato ...
Ingrandimento: 10 unit - 5.480.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,7 nm - 3 nm
Il microscopio elettronico a scansione JSM-IT800, equipaggiato con l’innovativa sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky “In-Lens Plus” (brevetto JEOL) unita ad uno spettrometro a raggi X (EDS) e alla nuova ...
... , controllate attraverso un'interfaccia grafica di facile utilizzo. Costruito secondo gli standard dell'industria dei semiconduttori attorno ad una piattaforma centrale che utilizza le più recenti tecnologie di produzione ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... Il microscopio dello zoom di serie ZTX-S adotta il sistema di imaging ottico, con l'alta risoluzione, la definizione fine e il forte senso di tridimensionale, facile operation.The è ampiamente utilizzato nel semiconduttore ...
... torretta rotante verso l'interno e agli obiettivi con grande distanza di lavoro. • Ideale come stazione di controllo per semiconduttori. • I modelli L- e L4 supportano laser YAG con lunghezze d'onda da 266 fino ...
Raggiungi nuovi clienti 365 giorni all'anno grazie a un'unica piattaforma
Diventa espositorei migliori fornitori
Si prega di specificare:
Aiutaci a migliorare:
caratteri restanti