Microscopio elettronico a scansione ad alta velocità per l'imaging su scala trasversale di campioni di grandi dimensioni
Il CIQTEK HEM6000 è dotato di tecnologie quali il cannone elettronico ad alta luminosità a grande corrente, il sistema di deflessione del fascio di elettroni ad alta velocità, la decelerazione dello stadio del campione ad alta tensione, l'asse ottico dinamico e l'obiettivo combinato elettromagnetico ed elettrostatico a immersione per ottenere l'acquisizione di immagini ad alta velocità garantendo al contempo una risoluzione su scala nanometrica.
Il processo operativo automatizzato è stato progettato per applicazioni quali un flusso di lavoro più efficiente e intelligente per l'imaging ad alta risoluzione su grandi superfici. La velocità di acquisizione delle immagini può raggiungere oltre 5 volte quella di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (fesem) convenzionale.
1. Velocità di acquisizione delle immagini: 10 ns/pixel,2*100 M pixel/s
2. Risoluzione:1,3 nm@3 kV, SE; 1,5 nm@1 kV, SE,0,9 nm@30 kV, STEM
3. Tensione di accelerazione: 0,1 kV~6 kV (modalità di decelerazione),6 kV~30 kV (modalità di non decelerazione)
4. Campo visivo: massimo 1*1 mm2; distorsione minima ad alta risoluzione 64*64 um2
5. Ripetibilità dello stadio: X ±0,6 um,Y ±0,3 um
6. Sistema di filtraggio degli elettroni di segnale: commutazione senza segnale SE/BSE, miscelazione con rapporto regolabile
7. Sistema di deviazione del fascio ad alta velocità completamente elettrostatico: Possibilità di ottenere immagini a grande campo ad alta risoluzione Massimo. Campo visivo fino a 32um*32 um a 4 nm per pixel
8. Tecnologia di decelerazione dello stadio campione:Riduce la tensione di atterraggio degli elettroni incidenti, aumentando l'efficienza di cattura degli elettroni del segnale
9.Sistema di deviazione del fascio dell'obiettivo a immersione elettromagnetica ed elettrostatica: il campo magnetico dell'obiettivo immerge il campione, contribuendo all'acquisizione di immagini ad alta risoluzione a bassa aberrazione
---