Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo HEM6000
da laboratorioper analisi di materialeper semiconduttore

Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo - HEM6000 - CIQTEK Co., Ltd. - da laboratorio / per analisi di materiale / per semiconduttore
Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo - HEM6000 - CIQTEK Co., Ltd. - da laboratorio / per analisi di materiale / per semiconduttore
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti
 

Caratteristiche

Tipo
elettronico a scansione ad emissione di campo
Applicazioni tecniche
da laboratorio, per analisi di materiale, per semiconduttore, per geologia
Ergonomia
dritto
Tecniche di osservazione
in campo chiaro
Configurazione
a pavimento
Sorgente di elettroni
a emissione di campo Schottky
Tipo di lente
a immersione
Tipo di rilevatore
in-lens SE, con rilevatore di elettroni retrodiffusi
Opzioni e accessori
assistito da computer
Altre caratteristiche
ad alta risoluzione, a grande campo visivo e distanza di lavoro, automatizzato, ad alta velocità, per semiconduttore, ad altissima risoluzione
Ingrandimento

Min.: 66 unit

Max.: 1.000.000 unit

Risoluzione spaziale

Min.: 0,9 nm

1,3 nm

Max.: 1,5 nm

Lunghezza

1.716 mm
(67,6 in)

Larghezza

1.235 mm
(48,6 in)

Descrizione

Microscopio elettronico a scansione ad alta velocità per l'imaging su scala trasversale di campioni di grandi dimensioni Il CIQTEK HEM6000 è dotato di tecnologie quali il cannone elettronico ad alta luminosità a grande corrente, il sistema di deflessione del fascio di elettroni ad alta velocità, la decelerazione dello stadio del campione ad alta tensione, l'asse ottico dinamico e l'obiettivo combinato elettromagnetico ed elettrostatico a immersione per ottenere l'acquisizione di immagini ad alta velocità garantendo al contempo una risoluzione su scala nanometrica. Il processo operativo automatizzato è stato progettato per applicazioni quali un flusso di lavoro più efficiente e intelligente per l'imaging ad alta risoluzione su grandi superfici. La velocità di acquisizione delle immagini può raggiungere oltre 5 volte quella di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (fesem) convenzionale. 1. Velocità di acquisizione delle immagini: 10 ns/pixel,2*100 M pixel/s 2. Risoluzione:1,3 nm@3 kV, SE; 1,5 nm@1 kV, SE,0,9 nm@30 kV, STEM 3. Tensione di accelerazione: 0,1 kV~6 kV (modalità di decelerazione),6 kV~30 kV (modalità di non decelerazione) 4. Campo visivo: massimo 1*1 mm2; distorsione minima ad alta risoluzione 64*64 um2 5. Ripetibilità dello stadio: X ±0,6 um,Y ±0,3 um 6. Sistema di filtraggio degli elettroni di segnale: commutazione senza segnale SE/BSE, miscelazione con rapporto regolabile 7. Sistema di deviazione del fascio ad alta velocità completamente elettrostatico: Possibilità di ottenere immagini a grande campo ad alta risoluzione Massimo. Campo visivo fino a 32um*32 um a 4 nm per pixel 8. Tecnologia di decelerazione dello stadio campione:Riduce la tensione di atterraggio degli elettroni incidenti, aumentando l'efficienza di cattura degli elettroni del segnale 9.Sistema di deviazione del fascio dell'obiettivo a immersione elettromagnetica ed elettrostatica: il campo magnetico dell'obiettivo immerge il campione, contribuendo all'acquisizione di immagini ad alta risoluzione a bassa aberrazione

---

VIDEO

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.