Microscopio con filamenti in tungsteno SEM 3300

elettronico a scansioneper analisiper analisi di materiale

Specifiche del microscopio SEM CIQTEK SEM3300 *Ottica elettronica Risoluzione: 2,5 nm @ 15 kV, SE 4 nm a 3 kV, SE 5 nm a 1 kV, SE Tensione di accelerazione: 0,1 kV ~ 30 kV Ingrandimento (Polaroid): 1 x ~ 300.000 x *Camera del campione Telecamera: Navigazione ottica Monitoraggio della camera Tipo di palcoscenico: motorizzato a 5 assi compatibile con il vuoto Gamma XY: 125 mm Gamma Z: 50 mm Gamma T: - 10° ~ 90° Gamma R: 360° *Rivelatori SEM Standard: Rivelatore di elettroni in-lens (Inlens) Rivelatore Everhart-Thornley (ETD) Opzionale: Rivelatore di elettroni retrodiffusi retrattile (BSED) Spettrometro a dispersione di energia (EDS / EDX) Modello di diffrazione a retrodiffusione di elettroni (EBSD) *Opzionale Blocco di carico per lo scambio di campioni Pannello di controllo con trackball e manopola *Interfaccia utente Sistema operativo: Windows Navigazione: Navigazione ottica, navigazione rapida a gesti, Trackball (opzionale) Funzioni automatiche: Luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico Il microscopio elettronico a scansione (SEM) CIQTEK SEM3300 incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", i rilevatori di elettroni inlens e l'obiettivo composto elettrostatico ed elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione che da tempo caratterizzava tali SEM, consentendo al SEM a filamento di tungsteno di eseguire operazioni di analisi a basso voltaggio precedentemente ottenibili solo con i SEM a emissione di campo. *Superamento del limite di risoluzione dei SEM a filamento di tungsteno *Rilevatore di elettroni all'interno della lente *Obiettivo combinato elettromagnetico ed elettrostatico *Più sicuro da usare *Eccellente espandibilità