Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo SEM5000Pro

da laboratorioper controllo di qualitàindustriale

CIQTEK FESEM Microscopio SEM5000Pro Specifiche tecniche -Ottica a elettroni Risoluzione: 0,8 nm @ 15 kV, SE/1,2 nm @ 1,0 kV, SE Tensione di accelerazione: 0,02 kV ~ 30 kV Ingrandimento (Polaroid)：1 ~ 2.500.000 x Tipo di pistola per elettroni: pistola per elettroni a emissione di campo Schottky -Camera per campioni Telecamera: due telecamere (navigazione ottica e monitoraggio della camera) Campo di lavoro: X: 110 mm, Y: 110 mm, Z: 50 mm/T: -10°～ +70°, R: 360° -Rivelatori e prolunghe SEM Standard: Rivelatore di elettroni ad infrarossi/rivelatore Everhart-Thornley (ETD) Opzionale: Rivelatore di elettroni retrodiffusi retrattile (BSED) Microscopio elettronico a trasmissione a scansione retrattile (STEM) Rivelatore a basso vuoto (LVD) Spettroscopia a dispersione di energia (EDS / EDX) Modello di diffrazione a retrodiffusione di elettroni (EBSD) Bloccaggio del carico di scambio del campione (4 pollici / 8 pollici) Pannello di controllo con trackball e manopola -Software Lingua: inglese Sistema operativo: Windows Navigazione: Navigazione ottica, navigazione rapida a gesti, trackball (opzionale) Funzioni automatiche: luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatore automatico Il CIQTEK SEM5000Pro è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo Schottky (FE-SEM) specializzato nell'alta risoluzione anche a bassa tensione di eccitazione. L'impiego di un'avanzata tecnologia di ottica elettronica "Super-Tunnel" facilita un percorso del fascio privo di crossover insieme a un design di lenti composte elettrostatiche ed elettromagnetiche. Questi progressi riducono l'effetto di carica spaziale, minimizzano le aberrazioni della lente, migliorano la risoluzione delle immagini a bassa tensione e raggiungono una risoluzione di 1,2 nm a 1 kV.