Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo SEM4000X

per ispezioneda laboratorioper analisi di materiale

Specifiche del microscopio CIQTEK SEM4000X FESEM Ottica elettronica Risoluzione: 0.9 nm@ 30 kV, SE 1.2 nm@15 kV, SE 1.9 nm@1 kV, SE 1.5 nm@1 kV (decelerazione ultra del fascio) 1 nm@15 kV (decelerazione ultra del fascio) Tensione di accelerazione: 0,2 kV ~ 30 kV Ingrandimento (Polaroid): 1 ~ 1,000,000 x Tipo di cannone elettronico: Pistola per elettroni a emissione di campo Schottky Camera del campione Telecamera: Doppia telecamera (navigazione ottica + monitoraggio della camera) Gamma del palcoscenico: X: 110 mm Y: 110 mm Z: 50 mm T: -10°~ +70° R: 360° Rivelatori SEM e prolunghe Standard: Rivelatore di elettroni nell'obiettivo: UD-BSE/UD-SE Rivelatore Everhart-Thornley: LD Opzionale: Rivelatore di elettroni retrodiffusi (BSED) Rivelatore per microscopia elettronica a trasmissione a scansione retrattile (STEM) Rivelatore a basso vuoto (LVD) Spettrometro a dispersione di energia (EDS / EDX) Modello di diffrazione a retrodiffusione di elettroni (EBSD) Blocco di carico per lo scambio di campioni (4 pollici / 8 pollici) Pannello di controllo con trackball e manopola Tecnologia di decelerazione Ultra Beam Mode Il CIQTEK SEM4000X è un FE-SEM stabile, versatile, flessibile ed efficiente. Affronta facilmente le sfide dell'imaging ad alta risoluzione per vari tipi di campioni. Può essere aggiornato con una modalità di decelerazione ultra-beam per migliorare ulteriormente la risoluzione a bassa tensione. # Alta risoluzione # Tecnologia multi-detettore # Allineamento semplificato # Costruito su una piattaforma di fascia alta # Tecnologia per la modalità di decelerazione del fascio ultra # Eccellente espandibilità