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Microscopi elettronici
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Ingrandimento: 3.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... è una combinazione di SEM ad immagine di superficie e microscopio a trasmissione a scansione a risoluzione intrinseca (STEM) ottimizzata per ottenere una risoluzione estrema. Ciò è reso possibile dall'esclusiva ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 0,6 nm
... Dotato di serie di una camera di compensazione per campioni da 150 mm, l'SU8700 offre un'elevata produttività anche per i campioni più grandi e un ambiente della camera di campionamento costantemente pulito per un imaging ad alta risoluzione ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,7, 0,6 nm
... L'SU8600 è il successore della collaudata famiglia di SEM a emissione di campo Regulus e soddisfa i requisiti più elevati per le applicazioni orientate all'imaging. L'emettitore a campo freddo con emissione quasi monocromatica, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH


microscopio elettronico a scansione ad emissione di campoZEISS GeminiSEM
Risoluzione spaziale: 0,7, 1,2 nm
... ZEISS GeminiSEM è sinonimo di imaging senza sforzo con risoluzione sub-nanometrica. Questi FE-SEM (microscopio elettronico a scansione a emissione di campo) combinano l'eccellenza nell'imaging e nell'analisi. ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle

... Gli strumenti della famiglia EVO combinano la microscopia elettronica a scansione ad alte prestazioni con un'esperienza intuitiva e facile da usare che si rivolge sia ai microscopisti esperti che ai nuovi ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle

... intuizioni al SEM Aumenta la produttività dei campioni FIB Sperimentate la migliore risoluzione 3D nelle vostre analisi FIB-SEM Massimizzate i vostri approfondimenti SEM Estraete informazioni ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle

Ingrandimento: 160 unit - 200.000 unit
Risoluzione spaziale: 0 nm - 10.000 nm
... Desktop SEM che consente di produrre acciaio di alta qualità attraverso l'analisi dei guasti e il miglioramento dei processi. I metallurgisti e i ricercatori nella produzione dell'acciaio hanno bisogno di dati di microscopia ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Ingrandimento: 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 2, 10, 3 nm
... Microscopio elettronico a scansione con pistola a emissione di campo da tavolo per immagini di alta qualità in tutte le discipline. Microscopio elettronico a scansione ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Risoluzione spaziale: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caratterizzazione al microscopio elettronico a scansione di nanomateriali con risoluzione sub-nanometrica e alto contrasto del materiale. Microscopio elettronico a scansione ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

SONDA DIGITALE PER LA LETTURA AUTOMATICA DI PROVE BRINELL - ISO 6506 - ASTM E10 Microscopio elettronico portatile per la lettura automatica di impronte Brinell con sfera ø 2,5/5/10 mm. ...

Ingrandimento: 300.000 unit
Risoluzione spaziale: 4, 7, 3 nm
Peso: 480 kg
CIQTEK SEM3200 è un microscopio elettronico a scansione di filamenti di tungsteno ad alte prestazioni. Ha eccellenti capacità di qualità dell'immagine sia in modalità ad alto che a basso vuoto. Dispone ...
CIQTEK Co., Ltd.

Ingrandimento: 1.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo termico analitico dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky a lunga durata e ad alta ...
CIQTEK Co., Ltd.

Ingrandimento: 300.000 unit
Risoluzione spaziale: 4,5, 3,9 nm
... Specifiche del microscopio CIQTEK SEM2100 SEM Ottica elettronica Risoluzione: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm a 20 kV, BSE Tensione di accelerazione: 0,5 kV ~ 30 kV Ingrandimento ...
CIQTEK Co., Ltd.

CRYO ARM™ 300 II è un microscopio elettronico a trasmissione basato sull’Atomic Resolution Microscope platform (ARM), dedicato all’osservazione di campioni sensibili al fascio elettronico, ...
Jeol

Risoluzione spaziale: 20 nm
... Microscopia sensibile alla superficie 20 nm Risoluzione laterale Spettroscopia locale k-Space imaging Facile da usare Compatibile con i sistemi MULTIPROBE UHV Un prodotto FOCUS La microscopia elettronica ...



Ingrandimento: 1.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 3 nm
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