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Microscopi elettronici
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Risoluzione spaziale: 0,3 nm - 1,5 nm
Peso: 500 g
... Preparazione dei campioni per l'imaging TEM e STEM o per la tomografia a sonda atomica. Facile da usare con automazione avanzata. Capacità di caratterizzazione 3D del sottosuolo di alta qualità. Preparazione ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Ingrandimento: 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 2, 3, 10 nm
... Microscopio elettronico a scansione con pistola a emissione di campo da tavolo per immagini di alta qualità in tutte le discipline. Microscopio elettronico a scansione ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Risoluzione spaziale: 1.030, 515 nm
... Scientific combinano la fresatura di fasci ionici focalizzati al plasma con l'ablazione laser a femtosecondi e l'imaging SEM (microscopia elettronica a scansione). Questa combinazione ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Ingrandimento: 3.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... sistema ottico offre una capacità di EELS per l'analisi avanzata dei materiali. L'SU9000 è il nuovo SEM premium di HITACHI. È dotato di un'ottica elettronica unica, con il campione posizionato all'interno ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 0,8 nm
... L'SU8700 inaugura una nuova era di microscopi elettronici a scansione a emissione di campo Schottky ad altissima risoluzione che va ad aggiungersi alla lunga serie di EM Hitachi. Questa rivoluzionaria ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,7, 0,6 nm
... L'SU8600 inaugura una nuova era di microscopi elettronici a scansione a emissione in campo freddo ad altissima risoluzione, che si aggiunge alla lunga serie di EM Hitachi. Questa rivoluzionaria piattaforma ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... In un ambiente industriale di qualità, analisi dei guasti o di ricerca, il microscopio elettronico a scansione (SEM) è la soluzione ideale per applicazioni di metallografia e analisi dei guasti, grazie ...
SONDA DIGITALE PER LA LETTURA AUTOMATICA DI PROVE BRINELL - ISO 6506 - ASTM E10 Microscopio elettronico portatile per la lettura automatica di impronte Brinell con sfera ø 2,5/5/10 mm. ...
Ingrandimento: 300.000 unit
Risoluzione spaziale: 3, 4, 8 nm
Peso: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 è un microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno ad alte prestazioni. Ha un'eccellente qualità dell'immagine, compatibilità con la modalità a basso vuoto, immagini ad alta ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ingrandimento: 1 unit - 2.500.000 unit
Risoluzione spaziale: 1, 1,5, 0,8 nm
Peso: 950 kg
... CIQTEK SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM, FEG SEM) ad alta risoluzione e ricco di funzioni. Design avanzato della colonna, tecnologia di tunneling ad alta tensione ...
CIQTEK Co., Ltd.
Risoluzione spaziale: 0,9, 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo termico analitico dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky a lunga durata e ad alta ...
CIQTEK Co., Ltd.
... intuizioni al SEM Aumenta la produttività dei campioni FIB Sperimentate la migliore risoluzione 3D nelle vostre analisi FIB-SEM Massimizzate i vostri approfondimenti SEM Estraete informazioni ...
ZEISS Métrologie industrielle
... stadio di raffreddamento ad azoto liquido ad entrata laterale e di un sistema di scambio automatico dei campioni, è un microscopio crioelettronico (cryo-EM) che consente l'osservazione di biomolecole a temperatura criogenica. ...
Jeol
Risoluzione spaziale: 20 nm
... Microscopia sensibile alla superficie 20 nm Risoluzione laterale Spettroscopia locale k-Space imaging Facile da usare Compatibile con i sistemi MULTIPROBE UHV Un prodotto FOCUS La microscopia elettronica ...
Ingrandimento: 1.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 3 nm
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