Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo ZEISS Crossbeam

per materialiad alta risoluzionemodulare

Combinate le prestazioni di imaging e analisi di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) ad alta risoluzione con la capacità di elaborazione di un fascio ionico focalizzato (FIB) di nuova generazione. Potreste lavorare in una struttura multiutente, come accademici o in un laboratorio industriale. Approfittate del concetto di piattaforma modulare di ZEISS Crossbeam e aggiornate il vostro sistema in base alle crescenti esigenze, ad esempio con il LaserFIB per l'ablazione massiva dei materiali. Durante la fresatura, l'imaging o l'analisi 3D, Crossbeam velocizza le applicazioni FIB. Massimizzate le vostre intuizioni al SEM Aumenta la produttività dei campioni FIB Sperimentate la migliore risoluzione 3D nelle vostre analisi FIB-SEM Massimizzate i vostri approfondimenti SEM Estraete informazioni reali sui campioni dalle immagini SEM ad alta risoluzione utilizzando le ottiche elettroniche Gemini Contate sulle prestazioni SEM del vostro Crossbeam per le immagini 2D sensibili alla superficie o per la tomografia 3D. Beneficiate di risoluzione, contrasto e rapporto segnale/rumore elevati, anche quando si utilizzano tensioni di accelerazione molto basse. Caratterizzate il vostro campione in modo completo con una gamma di rivelatori. Ottenete il contrasto dei materiali puri con l'esclusivo rivelatore Inlens EsB. Indagate i campioni non conduttivi senza essere disturbati da artefatti di carica. Aumento della produttività dei campioni FIB Approfittate della velocità e della precisione delle strategie di scansione FIB intelligenti per la rimozione del materiale ed eseguite i vostri esperimenti fino al 40% più velocemente di prima La colonna Ion-sculptor FIB introduce un nuovo modo di trattare i campioni FIB: riducendo al minimo i danni ai campioni, ne massimizzerete la qualità e allo stesso tempo velocizzerete gli esperimenti.