Microscopio elettronico a scansione SEM2100

da laboratorioper analisi di materialeper semiconduttore

Specifiche del microscopio CIQTEK SEM2100 SEM Ottica elettronica Risoluzione: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm a 20 kV, BSE Tensione di accelerazione: 0,5 kV ~ 30 kV Ingrandimento (Polaroid): 1 x ~ 300.000 x Camera del campione Telecamera: Navigazione ottica Monitoraggio della camera Tipo di palcoscenico: 3 assi, asse XYZ compatibile con il vuoto, motorizzato Gamma XY: 125 mm Gamma Z: 50 mm Rivelatori SEM Standard: Rivelatore Everhart-Thornley (ETD) Opzionale: Rivelatore di elettroni retrodiffusi retrattile (BSED) Spettrometro a dispersione di energia (EDS / EDX) Modello di diffrazione a retrodiffusione di elettroni (EBSD) Opzionale - Blocco di carico per lo scambio di campioni Pannello di controllo con trackball e manopola Interfaccia utente Sistema operativo: Windows Navigazione: Navigazione ottica, navigazione rapida a gesti, trackball (opzionale) Funzioni automatiche: Luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico Il microscopio CIQTEK SEM2100 è caratterizzato da un processo operativo semplificato e aderisce agli standard del settore e alle abitudini degli utenti nel suo design "Interfaccia utente". Nonostante l'interfaccia software minimalista, offre funzioni automatiche complete, strumenti di misurazione e annotazione, capacità di gestione della post-elaborazione delle immagini, navigazione ottica delle immagini e altro ancora. Il design di SEM2100 realizza perfettamente l'idea di "Semplicità senza sacrificare la funzionalità". #Design intuitivo, pulito e facile da usare #Funzioni di automazione complete #Funzioni integrate di post-elaborazione delle immagini #Funzioni integrate di post-elaborazione delle immagini #Navigazione ottica dell'immagine standard #Eccellente espandibilità #Più facile da usare