Microscopio elettronico a scansione SEM3200
da laboratorioper controllo di qualitàmedico

Microscopio elettronico a scansione - SEM3200 - CIQTEK Co., Ltd. - da laboratorio / per controllo di qualità / medico
Microscopio elettronico a scansione - SEM3200 - CIQTEK Co., Ltd. - da laboratorio / per controllo di qualità / medico
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Caratteristiche

Tipo
elettronico a scansione
Applicazioni tecniche
da laboratorio, per controllo di qualità, per analisi di materiale, medico, per semiconduttore, per materiali
Ergonomia
dritto
Obiettivo
con obiettivo piano
Tecniche di osservazione
in-situ
Configurazione
a pavimento
Sorgente luminosa
a illuminazione coassiale
Sorgente di elettroni
con filamenti in tungsteno
Sorgente di ioni
al gallio
Tipo di lente
con correzione dell'aberrazione
Tipo di rilevatore
EBSD, con rilevatore di raggi X a dispersione energetica
Opzioni e accessori
assistito da computer, USB
Altre caratteristiche
automatico, ad alta velocità
Ingrandimento

300.000 unit

Risoluzione spaziale

3 nm, 4 nm, 7 nm

Peso

480 kg
(1.058,2 lb)

Lunghezza

926 mm
(36,5 in)

Larghezza

836 mm
(32,9 in)

Altezza

1.700 mm
(66,9 in)

Descrizione

CIQTEK SEM3200 è un microscopio elettronico a scansione di filamenti di tungsteno ad alte prestazioni. Ha eccellenti capacità di qualità dell'immagine sia in modalità ad alto che a basso vuoto. Dispone inoltre di un'ampia profondità di campo con un ambiente intuitivo per la caratterizzazione dei campioni. Inoltre, la ricca scalabilità aiuta gli utenti a esplorare il mondo dell'imaging microscopico.

VIDEO

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.