Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo SEM5000X

da laboratorioper controllo di qualitàper analisi di materiale

CIQTEK SEM5000X è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) ad altissima risoluzione con risoluzione rivoluzionaria di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sfruttando il processo di progettazione della colonna aggiornato, la tecnologia "SuperTunnel" e il design dell'obiettivo ad alta risoluzione, SEM5000X può ottenere ulteriori miglioramenti nella risoluzione dell'immagine a bassa tensione. Le porte della camera dei campioni si estendono fino a 16 e il blocco del carico per lo scambio dei campioni supporta wafer fino a 8 pollici (diametro massimo 208 mm), espandendo notevolmente le applicazioni. copertura. Le modalità di scansione avanzate e le funzioni automatizzate migliorate offrono prestazioni più potenti e un'esperienza ancora più ottimizzata.