Microscopio elettronico a scansione in trasmissione SU9000II
per analisida ricercaBF-STEM

microscopio elettronico a scansione in trasmissione
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Caratteristiche

Tipo
elettronico a scansione in trasmissione
Applicazioni tecniche
per analisi, da ricerca
Tecnica di osservazione
BF-STEM, DF-STEM
Configurazione
a pavimento
Sorgente di elettroni
a emissione di campo freddo
Tipo di rilevatore
con rilevatore di elettroni secondari, con rilevatore di elettroni retrodiffusi
Altre caratteristiche
ad alta definizione, per campioni piatti, per semiconduttore, per campioni levigati, per topografia, per nanotecnologie, per l'identificazione di amianto, per wafer, per applicazioni di micro-imaging, ad altissima risoluzione
Ingrandimento

3.000.000 unit

Risoluzione spaziale

0,4 nm, 0,8 nm, 1,2 nm

Descrizione

La sorgente Cold Field Emission è ideale per l'imaging ad alta risoluzione grazie alle dimensioni ridotte della sorgente e alla diffusione dell'energia. L'innovativa tecnologia della pistola CFE contribuisce a creare il FE-SEM definitivo con una luminosità e una stabilità del fascio superiori, consentendo l'imaging ad alta risoluzione e l'analisi elementare di alta qualità. Per consentire un'acquisizione stabile dei dati ai massimi livelli di prestazioni dello strumento, l'SU9000II offre nuove funzionalità che rendono automatiche le regolazioni del sistema ottico e il nuovo pacchetto software EM Flow Creator come opzione per rendere automatica l'acquisizione dei dati, in particolare la raccolta di dati sequenziali. Inoltre, l'esclusivo design del sistema ottico offre una capacità di EELS per l'analisi avanzata dei materiali. L'SU9000 è il nuovo SEM premium di HITACHI. È dotato di un'ottica elettronica unica, con il campione posizionato all'interno di uno spazio tra la parte superiore e quella inferiore dell'asta dell'obiettivo. Questo cosiddetto concetto "true in-lens", combinato con la tecnologia di emissione a campo freddo di nuova generazione di HITACHI, garantisce la massima risoluzione del sistema (risoluzione SE 0,4 nm a 30 kV, 1,2 nm a 1 kV senza tecnologia di decelerazione del fascio [0,8 nm con decelerazione del fascio]) e la massima stabilità. Per rendere questo potere risolutivo utilizzabile nelle applicazioni pratiche del vostro laboratorio, l'SU9000 utilizza uno stadio di campionamento a ingresso laterale ultra-stabile simile a quello dei sistemi TEM di fascia alta e incorpora uno smorzamento delle vibrazioni ottimizzato e un cabinet chiuso per schermare le ottiche elettroniche dal rumore ambientale.

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Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

analytica 2024
analytica 2024

9-12 apr 2024 München (Germania) Hall A2 - Stand 113

  • Maggiori informazioni
    36th Control 2024
    36th Control 2024

    23-26 apr 2024 Stuttgart (Germania) Stand 7103

  • Maggiori informazioni
    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.