Microscopio elettronico a scansione in trasmissione SU9000 II

per analisida ricercaBF-STEM

L'SU9000 II è una combinazione di SEM ad immagine di superficie e microscopio a trasmissione a scansione a risoluzione intrinseca (STEM) ottimizzata per ottenere una risoluzione estrema. Ciò è reso possibile dall'esclusiva ottica elettronica dell'SU9000 II, che combina un emettitore a campo freddo con emissione quasi monocromatica con un obiettivo "inlens". Il campione viene posizionato su un supporto "side-entry" altamente stabile, praticamente all'interno dell'obiettivo a due stadi. Analogamente al modello SU8600, per l'imaging al SEM è disponibile un sistema di rivelatori a due stadi con filtro di energia, espandibile con un rivelatore mobile di retrodiffusione. In modalità trasmissione, il segnale TE può essere rilevato contemporaneamente all'imaging SEM in modo selettivo in base agli angoli di diffusione (campo chiaro, campo scuro variabile) con una risoluzione del reticolo inferiore a 3 Å. Un grande rivelatore EDX senza finestra con un angolo solido fino a 0,7 sr può essere montato vicino al campione per l'analisi elementare ad alta risoluzione sia in modalità SEM che STEM. Caratteristiche del prodotto: - Combinazione SEM-STEM con segnale SEM filtrato ExB e rilevamento del segnale di trasmissione dipendente dall'angolo di scattering - L'emettitore di campo freddo combinato con l'ottica elettronica inlens garantisce una risoluzione SE di 0,4 nm e una risoluzione TE di 0,34 nm a una tensione di accelerazione di 30k - Eccellente analisi degli elementi leggeri, grazie al supporto ottimale di un rivelatore EDX senza finestra da parte della lente a immersione magnetica. Oppure l'uso di uno spettrometro a perdita di energia