Microscopio elettronico a scansione JSM-IT810

per ispezionea emissione di campo SchottkyEBSD

Versatilità e alta risoluzione spaziale incontrano l'automazione con il FE-SEM della serie JSM-IT810. L'automazione senza codifica per l'imaging e l'analisi EDS è integrata per un flusso di lavoro snello ed efficiente. Sono disponibili nuove funzioni per garantire dati di alta qualità e una migliore esperienza d'uso per tutti gli utenti del SEM. Le funzioni includono il pacchetto di regolazione automatica del SEM, una funzione di correzione trapezoidale (utile per le misure EBSD) e la ricostruzione 3D in tempo reale della superficie per l'osservazione della topografia superficiale. L'utilizzo di un SEM FE non è mai stato così semplice con la serie JSM-IT810. L'osservazione al SEM e l'analisi EDS possono essere automatizzate semplicemente impostando le condizioni di analisi e selezionando le aree da misurare. Pacchetto di regolazione automatica del SEM (opzionale): Questa funzione utilizza un campione dedicato per eseguire la calibrazione dell'ingrandimento, l'allineamento del fascio e la calibrazione dell'energia EDS. Scegliere il nostro rivelatore BSE di tipo semiconduttore multi-segmentato per creare una ricostruzione 3D dal vivo della superficie del campione. Visualizzare l'immagine 3D in tempo reale per controllare la topologia del campione. Operatività di nuova generazione che elimina le barriere tra l'osservazione al SEM e l'analisi elementare con EDS. Diversi metodi di analisi come punto, area, MAP e linea possono essere riservati direttamente sulla schermata di osservazione, consentendo l'avvio immediato di un'analisi.