Microscopio elettronico a scansione JSM-IT210

per analisicompattoautomatico

Il microscopio elettronico a scansione compatto JEOL JSM-IT210 è un SEM rivoluzionario di ultima generazione dotato di diverse automazioni, che lo rendono il SEM di più semplice utilizzo attualmente sul mercato. Questo nuovo SEM offre la possibilità di osservare i tuoi campioni partendo dalla scala millimetrica, grazie alla telecamera a colori integrata, fino a quella nanometrica, in modalità SEM, in pochi secondi, con analisi chimiche EDS in tempo reale. Le molteplici autofunzioni che equipaggiano il nuovo JEOL JSM-IT210 consentono di acquisire immediatamente immagini SEM ad alti ingrandimenti, spettri o mappe EDS e creare report completi con un semplice click, anche da parte di utenti poco esperti. La nuova e rivoluzionaria funzione “Simple SEM” consente l’acquisizione automatica e personalizzata di immagini in diverse zone di interesse, aumentando drasticamente la produttività del SEM rispetto alle modalità di analisi convenzionali. Nonostante l’utilizzo della semplice sorgente in filamento di tungsteno (W), il JSM-IT210 permette di ottenere le migliori risoluzioni sul mercato, anche in condizioni di bassissime tensioni di accelerazione (1kV), condizione necessaria per l’ottenimento di immagini topografiche e superficiali eccellenti.