Il Soft X-Ray Emission Spectrometer (SXES) è uno spettrometro ad altissima risoluzione che consiste in un reticolo di diffrazione di nuova concezione e una telecamera CCD a raggi X ad alta sensibilità.
Allo stesso modo dell'EDS, è possibile la rilevazione parallela e l'analisi ad altissima risoluzione energetica di 0,3 eV (Fermi-edge, Al-L standard) può essere eseguita, superando la risoluzione energetica del WDS.
Schema del sistema
Il nuovo design del sistema ottico dello spettrometro permette la misurazione simultanea di spettri con energie diverse, senza spostare il reticolo di diffrazione o il rivelatore (CCD). Con l'alta risoluzione energetica, è possibile eseguire la mappatura dell'analisi dello stato chimico.
Confronto tra SXES, WDS e EDS
Spettri per il nitruro di titanio con vari metodi di spettrometria
Per il nitruro di titanio, i picchi di N-Kα e Ti-Ll sono sovrapposti. Anche con WDS, e la deconvoluzione della forma d'onda utilizzando un metodo matematico è necessario. Come illustrato nella figura qui sotto, c'è un'alta risoluzione energetica con SXES, che permette di osservare TiLl.
Esempio di analisi delle batterie Li-ion (LIB)
L'esempio qui sotto mostra mappe di grandi aree di campioni LIB con diversi stati di carica. SXES può mappare il picco Li-K sia allo stato della banda di valenza (a sinistra) che allo stato di terra (al centro). Una mappa di distribuzione del carbonio (a destra) può anche vedere la funzione sulla LIB che è completamente scarica.
Esempio di misurazione di elementi leggeri
Misure di composti di carbonio usando SXES
È possibile misurare le differenze tra diamante, grafite e polimeri. Le differenze possono essere osservate con i picchi aggiuntivi dal legame π e σ.
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