Spettrometro di fotoelettroni JPS-9030

a raggi Xdi processodi misura

Il JPS-9030 è dotato di un'interfaccia utente di nuova concezione che ne migliora ulteriormente l'operatività e presenta un design esterno sofisticato, moderno ed elegante. Caratteristiche - Profili di profondità ottimizzati per l'applicazione La sorgente ionica di incisione di tipo Kaufman, di nuova concezione, offre velocità di incisione da 1 nm/min a 100 nm/min (equivalente SiO2) e consente un'ampia gamma di impostazioni. È in grado di creare profili di profondità adatti a qualsiasi applicazione, dalle misure che richiedono precisione ai processi che richiedono velocità. Il montaggio della sorgente ionica di incisione di tipo Kaufman nella camera di scambio del campione facilita la prevenzione della contaminazione della camera di misura. - Il software di nuova concezione offre una facilità d'uso ancora maggiore SpecSurf Ver. 2.0 incorpora ora un'interfaccia grafica a nastro, offrendo un ambiente di facile utilizzo in cui tutte le operazioni possono essere eseguite con il mouse. Grazie alla funzione di analisi qualitativa automatica di JEOL, è possibile eseguire in sequenza analisi qualitative, quantitative e di stato chimico per più punti di acquisizione. - Sensibilità superficiale elevatissima Il JPS-9030 supporta tecniche come Angle-Resolved XPS (ARXPS) e Total Reflection XPS (TRXPS), ed è in grado di effettuare analisi ad altissima sensibilità delle superfici superiori di 1 nm (metodo di misura standard 6 nm o più). - Una ricchezza di opzioni - Sorgenti monocromatiche di raggi X - Sorgente ionica a cluster di gas argon adatta a campioni organici - Sistema di riscaldamento a infrarossi in grado di raggiungere temperature pari o superiori a 1.000 °C - Recipiente di trasferimento per proteggere i campioni dall'esposizione all'atmosfera