Microscopio FIB/SEM JIB-PS500i

da laboratorio3Dad alta risoluzione

Il JIB-PS500i offre tre soluzioni per assistere la preparazione dei campioni TEM. Il flusso di lavoro ad alta produttività è assicurato dalla preparazione del campione all'osservazione TEM. Caratteristiche COLLEGAMENTO TEM L'uso della cartuccia a doppia inclinazione e del supporto TEM* di JEOL facilita il collegamento tra il TEM e il FIB. La cartuccia può essere collegata al portacampioni TEM dedicato con un solo tocco. flusso di lavoro per il trasferimento dei campioni con la cartuccia a doppia inclinazione* L'OmniProbe 400* (Oxford Instruments) adottato consente operazioni di prelievo e manipolazioni precise e fluide. Le operazioni dell'OmniProbe 400* sono integrate nel software del JIB-PS500i. omniProbe 400* CONTROLLO E VIA Per preparare in modo preciso ed efficiente un campione TEM, è essenziale controllare rapidamente l'avanzamento della preparazione. Grazie allo stage ad alta inclinazione e allo schema del rilevatore, il JIB-PS500i consente di passare senza problemi dalla fresatura FIB all'imaging al microscopio elettronico a trasmissione di scansione (STEM). Le rapide transizioni tra la lavorazione delle lamelle e l'imaging STEM consentono una preparazione efficiente dei campioni. PREPARAZIONE AUTOMATICA Il JIB-PS500i automatizza la preparazione dei campioni utilizzando il sistema automatico di preparazione dei campioni TEM STEMPLING2*. Questo sistema automatico consente a qualsiasi operatore di preparare agevolmente i campioni per il TEM. Imaging SEM ad alta risoluzione e ad alto contrasto Smettete di esitare e di perdere il punto finale della fresatura. Le immagini SEM di alta qualità vi assistono. - Sistema di rilevamento del segnale Sono disponibili diversi rivelatori, tra cui il SED standard, l'UED e l'iBED. La selezione del rivelatore ottimale consente di osservare immagini nitide di vari campioni in diverse condizioni sperimentali.