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Il nuovo Microscopio Elettronico a Scansione con sorgente ad emissione di campo JEOL JSM-IT710HR, quarta generazione della serie HR, consente a chiunque di acquisire facilmente immagini ...
Jeol
Il microscopio elettronico a scansione compatto JEOL JSM-IT210 è un SEM rivoluzionario di ultima generazione dotato di diverse automazioni, che lo rendono il SEM ...
Jeol
... della superficie per l'osservazione della topografia superficiale. L'utilizzo di un SEM FE non è mai stato così semplice con la serie JSM-IT810. L'osservazione al SEM e l'analisi EDS possono essere automatizzate ...
Jeol
... JSM-IT200 è un SEM di facile utilizzo che si concentra sul costo delle funzionalità elevate di JSM-IT500 (modello di fascia alta) di InTouchScopeTM, con una produttività significativamente superiore. Specimen Exchange ...
Jeol
Il microscopio elettronico a scansione da Banco JEOL JCM-7000 è di immediato e facile utilizzo grazie all’innovativo sistema di navigazione a colori (SNS) sul campione ed entrambi i rivelatori ...
Jeol
... utilizzato sia per il microscopio ottico che per il microscopio elettronico a scansione. Di conseguenza, gestendo le informazioni sullo stage con un software dedicato, ...
Jeol
Ingrandimento: 10 unit - 5.480.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,7 nm - 3 nm
Il microscopio elettronico a scansione JSM-IT800, equipaggiato con l’innovativa sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky “In-Lens Plus” (brevetto JEOL) unita ...
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