Microscopio elettronico a scansione JSM-IT800 series

per analisi3Da pavimento

Il microscopio elettronico a scansione JSM-IT800, equipaggiato con l’innovativa sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky “In-Lens Plus” (brevetto JEOL) unita ad uno spettrometro a raggi X (EDS) e alla nuova interfaccia grafica, consente l’acquisizione continua di dati, immagini e spettri EDS permettendo di passare dall’osservazione SEM all’analisi chimica elementare senza interruzioni. Grazie all’impiego dell’intelligenza artificiale, nuovi algoritmi di calcolo ed elaborazione dati e autofunzioni avanzate, il JSM-IT800 offre velocità e prestazioni senza compromessi con un incremento rispetto ai tradizionali FE-SEM ad alta risoluzione di oltre il 50%. Il nuovo JEOL JSM-IT800 può essere configurato e personalizzato sulla base delle proprie specifiche applicazioni e richieste fornendo uno strumento analitico completo adatto ad ogni settore applicativo: dalla biologia alla scienza dei materiali, dal settore ceramico-refrattario a quello polimerico-plastico, dall’industria alimentare a quella metallurgica passando per il mondo dei semiconduttori.