Microscopio elettronico a scansione miXcroscopy™

da laboratorioa pavimentoad alta risoluzione

Lo stesso portacampioni può ora essere utilizzato sia per il microscopio ottico che per il microscopio elettronico a scansione. Di conseguenza, gestendo le informazioni del palcoscenico con un software dedicato, è possibile per il sistema registrare le posizioni osservate con il microscopio ottico, e poi ingrandire ulteriormente le stesse aree con il microscopio elettronico a scansione per osservare le strutture fini a un ingrandimento maggiore e a una risoluzione più alta.Gli obiettivi di osservazione trovati con il microscopio ottico possono essere osservati senza problemi con il microscopio elettronico a scansione senza dover cercare nuovamente l'obiettivo. Ora è possibile confrontare e verificare facilmente e senza problemi le immagini del microscopio ottico e quelle del microscopio elettronico a scansione. Acquisizione dei dati e osservazione intuitiva con l'uso del colore Aggiungendo le informazioni di colore della luce visibile dall'immagine del microscopio ottico (che non possono essere ottenute con l'immagine SEM) si ottiene un'immagine SEM con un effetto visivo più intuitivo. La ricerca agevole del target sfrutta le caratteristiche del microscopio ottico L'osservazione con il microscopio ottico permette di trovare facilmente le strutture target, che sono difficili da distinguere con le immagini SEM. Previene i danni al campione dal fascio di elettroni Per evitare danni o contaminazioni da parte del fascio di elettroni, l'individuazione dell'area di interesse viene effettuata prima con il microscopio ottico. Questo permette l'osservazione al SEM con una dose minima di radiazioni al sito di osservazione.