Microscopio elettronico JEM-ARM300F2

per analisia pavimentoa emissione di campo freddo

Il “GRAND ARM™ 2” è l’ultima evoluzione del GRAND ARM. Questo nuovo modello è stato sviluppato per garantire nuove possibilità al mondo della ricerca, offrendo il microscopio più potente, nei campi dell’ultra alta risoluzione e dell’analisi, sia alle alte che alle basse tensioni di accelerazioni. Il nuovo GRAND ARM™ 2 presenta molteplici miglioramenti rispetto alla precedente versione, volti ad ottimizzare il workflow operativo. Un nuovo pezzo polare, l’FHP2, che combina un’eccezionale risoluzione spaziale (HRTEM / HRSTEM) con una performante analisi dei raggi X (EDS). Il nuovo design dell’FHP2 consente di ottimizzare le condizioni di analisi in altissima risoluzione: • L’analisi EDS può essere eseguita con incredibile risoluzione spaziale ed in tempi estremamente ridotti grazie al fatto che l’angolo solido totale è stato più che raddoppiato rispetto alla precedente versione. • Il nuovo design dell’FHP2 permette di ridurre le aberrazioni cromatiche e sferiche, dando accesso ad una migliore risoluzione spaziale nelle immagini e nelle analisi EDS su un’ampia gamma di tensioni di accelerazione. (Risoluzione STEM garantita: 53 pm @ 300 kV, 96 pm @ 80 kV) * * Con correttore di aberrazione STEM (ETA). Rispetto al microscopio ottico Il pezzo polare WGP è invece progettato per analisi EDS ultrasensibili e per l’implementazione di studi dei campioni in-situ. Il WGP è un pezzo polare con gap di maggiori dimensioni creato per spingere all’estremo le prestazioni analitiche del GRAND ARM™ 2. Grazie a questo grande gap, è possibile: