Microscopio elettronico a scansione JSM-IT710HR

per analisicon rilevatore di elettroni secondariad alta risoluzione

Il nuovo Microscopio Elettronico a Scansione con sorgente ad emissione di campo JEOL JSM-IT710HR, quarta generazione della serie HR, consente a chiunque di acquisire facilmente immagini ad alta risoluzione grazie alle molteplici funzioni automatiche basate sull’Intelligent Technology. Tali autofunzioni, integrate all’interno del software di gestione JEOL SMILE VIEW™ Lab che equipaggia il nuovo SEM, consentono anche agli utenti poco esperti di acquisire immediatamente immagini SEM ad elevati ingrandimenti, spettri o mappature EDS e creare report completi con un semplice click. L’esclusivo design della sorgente elettronica JEOL “In-Lens Plus” (brevetto JEOL) ad emissione di campo e l’ottica elettronica avanzata, forniscono contemporaneamente alte risoluzioni ed elevate correnti di fascio, rendendo il JSM-IT710HR ideale sia per applicazioni di imaging che per applicazioni analitiche (EDS, EBSD, WDS, Raman, ecc.). Grazie al design compatto, alla camera di lavoro analitica di grandi dimensioni ed alla modalità di lavoro in basso vuoto standard, il JEOL JSM-IT710HR è un microscopio estremamente versatile adatto all’osservazione di un’ampia varietà di campioni: metallici, polimerici, ceramici, biologici, elettronici e magnetici.