Microscopio elettronico a trasmissione JEM-F200

per analisiin campo chiaroa campo scuro

Il nuovo JEM-F200 rappresenta il più avanzato e flessibile S/TEM a 200kV con sorgente ad emissione di campo, senza correttori di aberrazione. La costante domanda di miglioramento delle prestazioni che la comunità scientifica richiede, ha spinto JEOL a sviluppare un rivoluzionario S/TEM, versatile ed allo stesso tempo in grado di offrire risultati eccellenti, senza compromessi. Per tale motivo il JEM-F200 può essere equipaggiato con la stessa sorgente, Cold-FEG, tipica dei TEM JEOL con correttori di aberrazione così da poter combinare la più alta brillanza, con la minore dispersione energetica e la minima aberrazione cromatica. Il risultato finale è un evidente aumento della risoluzione spaziale ed una invidiabile prestazione in electron energy loss spectroscopy (EELS). Il JEM-F200 presenta un nuovo design che lo rende adatto sia all’operatività tradizionale che a quella da remoto grazie alla motorizzazione di tutti i rivelatori installabili. L’innovativo sistema elettro-ottico Quad Lens Condenser System permette di modulare le condizioni di illuminazione del fascio elettronico con estrema facilità al fine di ottenere le condizioni ottimali di lavoro, sulla base della tipologia di applicazione desiderata, in brevissimo tempo. Un nuovo sistema di trasferimento automatizzato del portacampione, SpecPorter™, rende più facile che mai il caricamento dei campioni, prevenendo possibili danni anche da parte di utenti poco esperti. Una volta caricato, il nuovissimo stage a migliorata stabilità, esegue movimenti del campione precisi e ad alta velocità, consentendo all’operatore di spostare il campo visivo in modo fluido da millimetri a picometri.