Microscopio elettronico a trasmissione JEM-2100Plus

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Il microscopio elettronico a trasmissione JEM-2100Plus fornisce soluzioni per un’ampia gamma di problemi nella scienza dei materiali, nella nanoelettronica, nelle scienze biologiche e rappresenta l’eccellente compromesso costo-prestazione per i TEM 200kV. Il JEM-2100Plus è la nuova generazione di TEM 200kV con sorgente termoionica LaB6: è intuitivo, facile da utilizzare anche con funzioni di controllo remoto grazie al suo rinnovato software di gestione. Il JEM-2100Plus consente l’integrazione di svariati accessori come STEM (HAADF e BF), EDS, laser per eseguire esperimenti risolti nel tempo o in-situ (si veda la sezione IDES) e molto altro. Il JEM-2100Plus è dotato di un goniometro ad alta stabilità, appositamente ottimizzato per applicazioni di tomografia 3D. La suite software JEOL TEMography™ consente l’acquisizione automatica di un’intera serie di immagini in modalità TEM o STEM. Il modulo di ricostruzione calcola automaticamente la ricostruzione 3D, il modulo di visualizzazione 3D consente la visualizzazione dell’immagine su una varietà di assi. Il controllo piezo X/Y, disponibile in opzione, completerà una configurazione avanzata.