Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo Phenom Pharos G2
educativoindustrialeper controllo di qualità

microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
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Caratteristiche

Tipo
elettronico a scansione ad emissione di campo
Applicazioni tecniche
educativo, industriale, per controllo di qualità, per ricerca sui materiali
Configurazione
da tavolo
Tipo di rilevatore
con rilevatore di elettroni secondari, con rilevatore di elettroni retrodiffusi
Ingrandimento

2.000.000 unit

Risoluzione spaziale

2 nm, 3 nm, 10 nm

Descrizione

Microscopio elettronico a scansione con pistola a emissione di campo da tavolo per immagini di alta qualità in tutte le discipline. Microscopio elettronico a scansione con pistola a emissione di campo Il Phenom Pharos G2 FEG-SEM di Thermo Scientific porta il SEM a emissione di campo sul vostro tavolo. Il Phenom Pharos G2 FEG-SEM supera molti SEM da tavolo in termini di qualità delle immagini e offre un'esperienza d'uso decisamente migliore. Per i laboratori accademici e industriali che finora non consideravano il SEM un'opzione realistica, il Phenom Pharos G2 FEG-SEM rende accessibili le prestazioni del FEG grazie al suo attraente fattore di forma e alla breve formazione richiesta. La rapidità di caricamento dei campioni si traduce in una rapida sostituzione degli stessi, con conseguente aumento della produttività. A differenza di altri SEM, che finiscono per essere completamente prenotati, il Phenom Pharos G2 FEG-SEM esegue lavori di imaging e analisi in modo così rapido da poter essere utilizzato come strumento di lavoro. Il nuovo Phenom Pharos G2 FEG-SEM amplia la gamma di tensioni di accelerazione fino a 1 kV, per meglio adattarsi a campioni isolanti e sensibili al fascio, e fino a 20 kV, con una risoluzione di 2,0 nm che rivela i dettagli più fini. Sorgente di emissione di campo unica nel suo genere Unico tra i SEM da tavolo, il Phenom Pharos G2 FEG-SEM offre una sorgente a emissione di campo che garantisce un'elevata luminosità, immagini nitide e una corrente di fascio stabile. Eccellente potere risolutivo Il Phenom Pharos G2 FEG-SEM offre una risoluzione di 2,0 nm a 20 kV. Tali prestazioni consentono di evidenziare la forma delle nanoparticelle, le imperfezioni dei rivestimenti o altre caratteristiche che non verrebbero colte dai SEM al tungsteno o da altri SEM da tavolo.

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Cataloghi

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.