Microscopio SEM Phenom ParticleX AM
per analisidi misuraper controllo di qualità

microscopio SEM
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Caratteristiche

Tipo
SEM
Applicazioni tecniche
per analisi, di misura, per controllo di qualità, per ricerca sui materiali
Configurazione
da ufficio
Sorgente di elettroni
CeB6
Tipo di rilevatore
con rilevatore di elettroni secondari
Altre caratteristiche
a motore
Ingrandimento

Min.: 160 unit

Max.: 200.000 unit

Risoluzione spaziale

10 nm

Min.: 0 nm

Max.: 16 nm

Descrizione

SEM da tavolo per l'analisi della produzione additiva, in grado di osservare campioni di grandi dimensioni fino a 100 mm x 100 mm. Analisi della produzione additiva Il microscopio elettronico a scansione (SEM) da tavolo Phenom ParticleX di Thermo Scientific è un SEM da tavolo multifunzionale progettato per la produzione additiva, che offre purezza su scala microscopica. È dotato di una camera sufficientemente grande per analizzare campioni fino a 100 mm x 100 mm. Il meccanismo proprietario di ventilazione e caricamento assicura il ciclo di ventilazione/caricamento più veloce al mondo, garantendo la massima produttività. Con il SEM da tavolo Phenom ParticleX AM è possibile avere il controllo interno dei dati: -Monitorare le caratteristiche critiche delle polveri metalliche -Migliorare i processi di produzione additiva a letto di polvere e alimentati a polvere -Identificare le distribuzioni dimensionali delle particelle, la morfologia delle singole particelle e le particelle estranee Caratteristiche di Phenom ParticleX AM Desktop SEM Analisi delle particelle al SEM Il Phenom ParticleX AM Desktop SEM è dotato di una camera con uno stadio motorizzato preciso e veloce che consente di analizzare campioni fino a 100 mm x 100 mm. Anche con campioni di dimensioni maggiori, la navetta di caricamento proprietaria mantiene il ciclo di ventilazione/caricamento a un tempo di caricamento leader del settore di 60 secondi o meno, garantendo in definitiva una produttività più rapida rispetto ad altri sistemi SEM. Test di produzione additiva Il Phenom ParticleX AM Desktop SEM misura vari parametri di dimensione e forma, come il diametro minimo e massimo, il perimetro, il rapporto d'aspetto, la rugosità e il diametro del feret. Tutti questi parametri possono essere visualizzati con valori del 10%, 50% o 90% (ad esempio, d10, d50, d90).

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VIDEO

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.