Microscopio SEM Phenom ParticleX AM
per analisidi misuraper controllo di qualità

Microscopio SEM - Phenom ParticleX AM - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - per analisi / di misura / per controllo di qualità
Microscopio SEM - Phenom ParticleX AM - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - per analisi / di misura / per controllo di qualità
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Caratteristiche

Tipo
SEM
Applicazioni tecniche
per analisi, di misura, per controllo di qualità, per ricerca sui materiali
Configurazione
da ufficio
Sorgente di elettroni
CeB6
Tipo di rilevatore
con rilevatore di elettroni secondari
Altre caratteristiche
a motore
Ingrandimento

Max.: 200.000 unit

Min.: 160 unit

Risoluzione spaziale

10 nm

Max.: 16 nm

Min.: 0 nm

Descrizione

Se volete migliorare la qualità e la precisione dei vostri test sulle polveri additive, con analisi più dettagliate e misure dimensionali accurate, il SEM da tavolo Phenom ParticleX AM di Thermo Scientific può aiutarvi. Sia per i processi di produzione additiva (AM) a letto di polvere che per quelli alimentati a polvere, può aiutarvi ad analizzare le caratteristiche critiche delle polveri metalliche su microscala. Inoltre, consente di lavorare con un massimo di 49 campioni contemporaneamente. Ma ciò che distingue questo sistema è il software integrato Thermo Scientific Perception, che individua e identifica automaticamente detriti, particelle sferiche o allungate e altre particelle, dimostrando così la qualità della polvere. Fornisce quindi rapporti industriali concisi che trasformano i dati grezzi in risposte chiare e imparziali per voi e il vostro team. Il SEM da tavolo Phenom ParticleX AM è dotato di spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS) integrata per un'analisi avanzata della composizione. È inoltre possibile aggiungere un rivelatore di elettroni secondari (SED), che raccoglie elettroni a bassa energia dallo strato superficiale superiore del campione per fornire informazioni dettagliate sulla superficie. panoramica Soddisfare con sicurezza gli standard di qualità industriale Con il SEM da tavolo Phenom ParticleX AM è possibile analizzare la composizione e le dimensioni delle particelle, nonché i parametri di forma (diametro, perimetro, rapporto d'aspetto, rugosità e diametro di Feret), il tutto su microscala e con una precisione di gran lunga superiore rispetto ad altre tecnologie. Produttività leader nel settore Il SEM da tavolo Phenom ParticleX AM garantisce un'elevata produttività, consentendovi di fare di più con il microscopio e di aumentare il tempo del ciclo di produzione.

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VIDEO

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.