Microscopio SEM Phenom ParticleX TC

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Analisi della pulizia dei componenti con un SEM da tavolo multiuso. SEM da tavolo per l'analisi della pulizia dei componenti Il Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM è un SEM da tavolo multiuso che consente di effettuare la pulizia tecnica su microscala. Caratterizzazione dei materiali Una soluzione versatile per analisi interne di alta qualità, il Phenom ParticleX Desktop SEM ti dà la possibilità di effettuare rapidamente la caratterizzazione, la verifica e la classificazione dei materiali, supportando la tua produzione con dati veloci, accurati e affidabili. Il sistema è semplice da utilizzare e veloce da imparare, aprendo l'analisi delle particelle e dei materiali a un gruppo più ampio di utenti. Caratteristiche principali Pulizia tecnica Con la crescente domanda di analisi di particelle più piccole al di là della portata della microscopia ottica nelle industrie (automobilistiche), il Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM consente la microscopia elettronica a scansione automatizzata con spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS). Si tratta di un grande vantaggio rispetto alla microscopia ottica, in quanto consente la classificazione chimica delle particelle, fornendo grandi intuizioni sui vostri processi produttivi e/o ambienti. Sono disponibili rapporti standard conformi a VDA 19 / ISO 16232 o ISO 4406/4407. Rilevatore di elettroni secondari Un rilevatore di elettroni secondari (SED) è disponibile come opzione sul Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM. Il SED raccoglie gli elettroni a bassa energia dallo strato superficiale superiore del campione. È quindi la scelta perfetta per rivelare informazioni dettagliate sulla superficie del campione. Il SED può essere di grande utilità per le applicazioni in cui la topografia e la morfologia sono importanti.