Microscopio elettronico FOCUS PEEM

da laboratoriomodularein tempo reale

Microscopia sensibile alla superficie 20 nm Risoluzione laterale Spettroscopia locale k-Space imaging Facile da usare Compatibile con i sistemi MULTIPROBE UHV Un prodotto FOCUS La microscopia elettronica a fotoemissione (PEEM) è una tecnica di imaging estremamente potente, la cui versatilità per l'imaging topografico, chimico e magnetico ad alta risoluzione è stata dimostrata in molte applicazioni di laboratorio e di sincrotrone. Importanti contributi alla caratterizzazione dei dispositivi magnetici, alla ricerca Plasmon, alla chimica di superficie e all'analisi chimica ad alta risoluzione laterale in combinazione con la radiazione di sincrotrone, allo studio dei processi risolti nel tempo e all'imaging dello spazio K sono solo alcuni esempi di ricerca attiva basata sul PEEM. A differenza di un microscopio elettronico a scansione (SEM), il PEEM riproduce direttamente le superfici che emettono fotoelettroni in tempo reale, senza scansione L'emissione di elettroni dalle superfici può essere causata in vari modi - dall'eccitazione per irraggiamento dei fotoni, termicamente, tramite bombardamento elettrone/ione o dall'emissione di campo. Nel corso degli anni il FOCUS-PEEM è stato continuamente migliorato nelle prestazioni e nell'usabilità. Il PEEM, lo stadio di campionamento integrato dedicato ad alta stabilità (IS) e i vari filtri di energia disponibili seguono un concetto modulare e facile da aggiornare. Inoltre, il funzionamento assistito da software assicura un funzionamento PEEM efficiente in termini di tempo e sicuro anche su campioni impegnativi. Con più di 50 unità sul mercato, il FOCUS IS-PEEM è un potente strumento di analisi delle superfici.