Microscopio per analisi SAM 400

da ricercaad alta velocitàacustico a scansione

Il SAM 400 è uno strumento ad alte prestazioni che consente indagini acustiche non distruttive per applicazioni dedicate di analisi ad alta produttività, controllo qualità e ricerca. Dispone di un nuovo stadio ad alta velocità senza manutenzione e di nuove tecnologie per trasduttori e rf fino a 400 MHz, controllate attraverso un'interfaccia grafica di facile utilizzo. Costruito secondo gli standard dell'industria dei semiconduttori attorno ad una piattaforma centrale che utilizza le più recenti tecnologie di produzione e ricerca, il SAM 400 può gestire con precisione wafer fino a 300 mm e campioni fino a 660x860x60x60 mm (w/l/h). Le frequenze degli ultrasuoni vanno fino a 500 MHz con trasduttori da 10 MHz a 400 MHz. Sono disponibili serbatoi di diverse dimensioni e vassoi. Campo di scansione: x=250 µm-430 mm, y=250 µm-430 mm, z=100mm