Microscopio acustico a scansione SAM 300 TWIN
per analisida ricerca

Microscopio acustico a scansione - SAM 300 TWIN - PVA TePla Analytical Systems GmbH - per analisi / da ricerca
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Caratteristiche

Applicazioni tecniche
per analisi, da ricerca
Altre caratteristiche
acustico a scansione

Descrizione

Il GEMELLO del SAM 300 è uno strumento di rendimento elevato permettendo alle indagini acustiche non distruttive per l'alti analisi di capacità di lavorazione, controllo di qualità ed applicazioni della ricerca. Caratterizza un nuovo analizzatore ad alta velocità di moto lineare e le nuove tecnologie del trasduttore e di rf di fino a 400 megahertz, controllati attraverso un'interfaccia grafica facile da usare. Un nuovo concetto master/slave permette alle matrici di due trasduttori di acquistare le immagini acustiche simultanee. Costruito agli standard industriali a semiconduttore intorno ad una piattaforma del centro che utilizza l'ultima tecnologia della ricerca e di produzione, la RICERCA del GEMELLO del SAM può trattare esattamente i wafer fino a 300 millimetri. Le frequenze di ultrasuono variano fino a 500 megahertz con i trasduttori da 10 megahertz - 400 megahertz. Gamma d'esplorazione: x=250 µm-320 millimetro, y=250 µm-320 millimetro, z=100mm Il fuoco automatico si applica ad ogni trasduttore

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.