Microscopio per analisi SAM 300 E
acustico a scansione

Microscopio per analisi - SAM 300 E - PVA TePla Analytical Systems GmbH - acustico a scansione
Microscopio per analisi - SAM 300 E - PVA TePla Analytical Systems GmbH - acustico a scansione
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Caratteristiche

Applicazioni tecniche
per analisi
Altre caratteristiche
acustico a scansione

Descrizione

La linea SAM offre microscopi acustici a scansione di facile utilizzo per il controllo di processo e la garanzia della qualità, nonché per applicazioni di ricerca. I singoli modelli sono derivati da una piattaforma di componentistica conforme agli standard industriali e che incorpora tecnologie di produzione e produzione all'avanguardia. Grazie alla nuova tecnologia ad alta frequenza e ai trasduttori, i nostri microscopi acustici consentono un'analisi acustica dettagliata nel campo degli ultrasuoni fino a 400 MHz. - Scanner lineare a bassa rumorosità - Non adatto per il funzionamento 24/7 - Analisi di campioni nella gamma di frequenza degli ultrasuoni fino a 400 MHz - Particolarmente adatto per misure acustiche dettagliate - Dotato di un'interfaccia utente grafica per la facilità d'uso e l'applicabilità flessibile - Campo di scansione: x = 320 mm; y = 320 mm - 1 giga-campione ADC

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.