Tester di aderenza Qscratch 20 GO

per rivestimentodi produzionead uso industriale

Panoramica
Il Qscratch 20 GO è un rilevatore di graffi macro/micro semiautomatico progettato per il controllo qualità standardizzato di rivestimenti e superfici. Supporta misure singole con carico progressivo o costante e fornisce risultati tracciabili e conformi alle norme tramite hardware integrato e software QpixControl2.

Vantaggi del prodotto

• Rilevatore di graffi macro/micro semiautomatico per flussi di controllo qualità definiti
• Soluzione compatta per test di routine e monitoraggio in produzione
• Controllo elettronico della forza con intervallo 0.5–200 N
• Modalità carico costante e progressivo per test conformi alle norme
• Cambiapezzi automatico a 8 posizioni per moduli di prova e obiettivi
• Asse Z dinamico automatizzato e asse Y motorizzato
• Software QpixControl2 con workflow guidato e report strutturati
• Valutazioni tracciabili e report standardizzati per la documentazione QC

Metodi di prova e campo di forza
Carico progressivo
Si definiscono carico iniziale e finale e la velocità di incremento; il carico aumenta lungo la lunghezza del graffio e gli eventi visibili vengono assegnati come punti Lc nelle loro posizioni. Norme di riferimento: ISO (PFST), ASTM (PL). Lc indica il carico critico.

Carico costante
La forza normale rimane costante lungo la lunghezza del graffio, adatta per misure singole, confronti di serie e condizioni ricorrenti di controllo qualità. Norme: ISO (CFST), ASTM (CL). Lc: carico critico.

Principio di prova ed eventi di guasto
Un bulino diamantato scorre sulla superficie rivestita sotto una forza normale definita. Gli eventi visibili (cracking, spalling, penetrazione) sono localizzati lungo il graffio e assegnati ai carichi critici corrispondenti, rendendo i punti di guasto tracciabili.

Definizione e assegnazione degli eventi di guasto

• Lc1 - Cracking iniziale / deformazione plastica
• Lc2 - Spalling
• Lc3 - Penetrazione del rivestimento fino al substrato

Ottica, illuminazione e imaging
Il Qscratch 20 GO utilizza un sistema di lenti sviluppato da QATM con illuminazione di Koehler e LED bianchi, oltre a controllo apertura motorizzato, per fornire immagini ad alto contrasto e elevata magnificazione comparabili a microscopi sofisticati. Obiettivi: acromatico standard e semi-apocromatico di alta qualità. Imaging integrato e cambio motorizzato di lente/utensile consentono ispezione e determinazione degli Lc senza offset.

Utilizzo e automazione
Il sistema include un cambiapezzi motorizzato a 8 posizioni (max. 3 moduli di prova, max. 7 obiettivi), asse Y motorizzato, asse Z dinamico automatizzato con corsa 150 mm e tecnologia CAS (Collision Avoiding System) per proteggere la meccanica tramite calcoli predittivi 3D. Illuminazione LED dell'area di prova e display di stato illuminato supportano il posizionamento e la panoramica.

Software e workflow
QpixControl2 offre un workflow guidato e un concetto utente 3D: creazione metodi, posizionamento visivo dei graffi, misure automatiche singole o multiple, valutazione guidata degli Lc, acquisizione immagini integrata, gestione dati, esportazione e generazione di report standardizzati. Connettività: XML, CSV, Q-DAS, LIMS, OPC UA per integrazione Industria 4.0.

Tipi di rivestimenti e materiali (applicazioni tipiche)

• Rivestimenti ceramici sottili e duri (tipicamente 0.1–30 μm): carburi (TiC, CrC), nitruro (TiN, CrN, TiAlN), ossidi (Al2O3), diamante, DLC
• Rivestimenti tecnici e duri PVD/PACVD (tipicamente ≤ 20 μm): PVD TiN, PACVD DLC, DLC da scarica ad arco, PVD/PACVD Cr–C, PVD Al2O3, cromo duro

Norme

• DIN EN ISO 20502 / ASTM C1624 — Determinazione dell'adesione e delle modalità di rottura meccanica di rivestimenti ceramici duri tramite prova di graffi
• ISO 27307 — Valutazione dell'adesione e della coesione di strati ceramici spruzzati termicamente tramite prova di graffio trasversale
• ASTM G171 — Determinazione della durezza da graffio utilizzando un bulino di diamante definito e forza normale costante

Incluso / equipaggiamento di base

• Indentatore diamantato Rockwell (modulo di prova di base)
• Obiettivi standard: 20x, 50x (inclusi)
• Asse Y motorizzato e asse Z dinamico (CAS)
• Cambiapezzi motorizzato 8 posizioni (max. 3 moduli, max. 7 obiettivi)
• Software integrato QpixControl2 (workflow guidato e reporting)

Specifiche tecniche

• Intervallo di forza di prova: 0.5–200 N (0.5 N e 1 N > 1% accuratezza)
• Asse Z: dinamico, automatizzato (CAS), corsa 150 mm
• Posizioni utensile: cambiapezzi motorizzato 8 posizioni (max. 3 moduli di prova, max. 7 obiettivi)
• Tipi di obiettivi: standard (acromatico) e alta qualità (semi-apocromatico)
• Dimensione tavola: 150 x 120 mm
• Percorso (Y): 150 mm
• Precisione di posizionamento asse Y: ±0.2 μm
• Elementi di controllo: arresto d'emergenza, pulsante start, joystick Y/Z
• Peso max. del pezzo: 50 kg
• Peso del dispositivo base: 58 kg
• Moduli opzionali: Qpix Inspect (crater-grinding, test di adesione Rockwell), calibro digitale e altre opzioni di ispezione