Spettrometro a fluorescenza NEX DE

EDXRFdi processodi monitoraggio

Come analizzatore elementare dispersivo di fluorescenza a raggi X di rendimento elevato di energia premio del benchtop (EDXRF), il nuovo Rigaku NEX DE consegna l'ampia copertura elementare con ad un software basato Windows® facile da imparare di QuantEZ. Non-distruttivo analizzi da sodio (Na) con (u) uranio in quasi tutta la matrice, dai solidi e dalle leghe alle polveri, ai liquidi ed ai residui. Analisi elementare di XRF nel campo, nella pianta o nel laboratorio Progettato particolarmente e costruito per uso industriale pesante, se sul pavimento della pianta o negli ambienti a distanza del campo, il potere, la flessibilità e la facilità di uso analitici superiori del NEX DE aggiunge al suo vasto appello per una gamma di applicazioni mai espandentesi, compreso l'esplorazione, la ricerca, l'ispezione in serie di RoHS e l'istruzione come pure i monitoraggi delle applicazioni di produzione e di industriale. Se il bisogno è controllo di qualità di base (controllo di qualità) o le sue varianti più specializzate — quali controllo di qualità analitico (AQC), assicurazione di qualità (QA) o controllo dei processi statistico come sei sigmi — il NEX DE è la scelta affidabile di rendimento elevato per l'analisi elementare sistematica da XRF. XRF con il tubo radiogeno 60kV ed il rivelatore dello SDD Il tubo radiogeno 60kV ed il Peltier hanno raffreddato il rivelatore VELOCE della deriva del silicio di SDD® per consegnare la ripetibilità a breve termine eccezionale e la riproducibilità a lungo termine con risoluzione di punta dell'elemento eccellente. Questa capacità ad alta tensione (60 chilovolt), con la corrente di alta emissione ed i filtri automatizzati multipli dal tubo radiogeno, fornisce una vasta gamma di versatilità delle applicazioni di XRF e di limite-de-rilevazione bassa (LOD).